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快速檢測,,快速行動(dòng)
微電子和半導(dǎo)體檢查系統(tǒng) DM3 XL
檢測速度在微電子和半導(dǎo)體行業(yè)的檢查,、過程控制或缺陷和故障分析中至關(guān)重要。您發(fā)現(xiàn)缺陷的速度越快,,您可以做出更快的反應(yīng),。
大視野——視野增加30%
DM3 XL檢測系統(tǒng)視野開闊,可讓您的團(tuán)隊(duì)更快地發(fā)現(xiàn)缺陷并提高合格率,。利用獨(dú)特的宏觀物鏡增加的30%視野,。
視野更大,效率更高
看到更多意味著更快地工作,。為了快速掃描6英寸以下的大型組件,,DM3 XL提供了獨(dú)特的微距物鏡。
放大倍數(shù)為0.7倍,,它可以立即捕獲35.7毫米的視場-比其他常規(guī)掃描物鏡大30%,。
有了宏觀目標(biāo),缺陷就沒有機(jī)會(huì)了:
提高產(chǎn)量
可靠地檢測到晶圓邊緣或中心的顯影不足
檢測不均勻的徑向膜厚度
LED適用于所有對比方法
DM3 XL將LED照明用于所有對比方法,。LED照明提供恒定的色溫,,并提供所有強(qiáng)度級別的真實(shí)彩色成像,。
在所有強(qiáng)度級別上逼真的彩色成像
免調(diào)整
無需更換燈泡-無需停機(jī)
可重復(fù)的結(jié)果
由于使用壽命長且功耗低,LED還具有巨大的成本節(jié)省潛力,。
光學(xué)高性能
使用DM3 XL,,您可以以可承受的價(jià)格享受**的光學(xué)效果。
用傾斜照明檢查側(cè)面,,邊緣或碎片:從不同角度照亮樣品,,這是可視化地形圖的簡便有效方法。
通過深入的暗場對比度檢測樣品下層中的微小劃痕或小顆粒,。
靈敏度和分辨率的急劇提高會(huì)讓您震驚,。
各種樣品–可變臺插入
無論您要檢查哪種樣品大小和樣品類型,都可以從各種載物臺中進(jìn)行選擇:
載物臺尺寸:150毫米x 150毫米
舞臺插件:金屬插件,,晶圓支架或掩模支架
快速粗臺或精臺定位
舒適直觀地工作
彩色編碼膜片助手(CCDA)簡化了分辨率,,對比度和景深的基本設(shè)置,有助于加快工作速度并減少操作錯(cuò)誤,。
簡單直觀的功能使您的團(tuán)隊(duì)可以更快地提供可靠的結(jié)果,。
借助易于觸及的控件,可在切換對比度或照明時(shí)將手放在顯微鏡上,,將眼睛放在樣品上
用右手輕松操作光強(qiáng)度控制器
使用可變的ErgoTubes和聚焦旋鈕將顯微鏡調(diào)整到不同的身高
暫無數(shù)據(jù),!