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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
HS2000型三維表面形貌儀是一款全球**速的三維形貌儀,采用白光共聚焦線光源技術(shù),,可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度超快測(cè)試,,具有測(cè)量精度高,速度快,,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),,該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品,并具有多種選項(xiàng),,包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺(tái),,原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,,特征區(qū)域定位等多種功能模塊,。
產(chǎn)品原理:采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級(jí)的分辨率
- 利用白光點(diǎn)光源,,光線經(jīng)過(guò)透鏡后產(chǎn)生色差,,不同波長(zhǎng)的光分開(kāi)后入射到被測(cè)樣品上。
- 位于白光光源的對(duì)稱位置上的超靈敏探測(cè)器系統(tǒng)用來(lái)接收經(jīng)被測(cè)點(diǎn)漫反射后的光,。
- 根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理,,探測(cè)器系統(tǒng)只能接收到被測(cè)物體上單點(diǎn)反射回來(lái)的特定波長(zhǎng)的光,從而得到這個(gè)點(diǎn)距離 透鏡的垂直距離,。
- 再通過(guò)點(diǎn)掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo),,即X-Z坐標(biāo)
- *后以S路徑獲得物體每個(gè)點(diǎn)的三維X-Y-Z坐標(biāo)
- *后將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給專業(yè)的三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析。
- 軟件能夠自動(dòng)獲取用戶關(guān)心的表面形貌參數(shù),。
產(chǎn)品特性:
- 采用白光共聚焦色差技術(shù),,可獲得納米級(jí)的分辨率
- 測(cè)量具有非破壞性,測(cè)量速度快,,精確度高
- 測(cè)量范圍廣,,可測(cè)透明、金屬材料,,半透明,、高漫反射,低反射率,、拋 光,、粗糙材料(金屬、玻璃,、木頭,、合成材料、光學(xué)材料,、塑料,、涂層、涂料,、漆,、紙、皮膚,、頭發(fā),、牙齒…);
- 尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面
- 不受環(huán)境光的影響
- 測(cè)量簡(jiǎn)單,,樣品無(wú)需特殊處理
- Z方向測(cè)量范圍大:為27mm
主要功能:
-可創(chuàng)建任意區(qū)域的2D曲線圖或2D等高線分布圖,;
- 可創(chuàng)建任意區(qū)域的3D圖像;
- 自動(dòng)得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)(Ra,,Rp,,Rv,Rz,,Rc,,Rt,Rq,Rsk,,Rku),;
- 自動(dòng)得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,,Sq,,Sv,Sz,,Ssk,,Sku);
- 可得到樣品的平整度,,波紋度等參數(shù),;
- 自動(dòng)校準(zhǔn)功能,例如粗糙度,,一般情況下對(duì)于曲面樣品,,首先展平,然后自動(dòng)給出粗糙度的參數(shù),;
- 具有尺寸測(cè)量:長(zhǎng)度,,寬度,角度,,深度,,臺(tái)階高度;
- 可測(cè)孔洞磨損面積,,磨損體積等參數(shù),;
- 具有功率譜密度測(cè)試功能;
- 具有分形統(tǒng)計(jì)功能,;
......
主要技術(shù)參數(shù):
- XY全自動(dòng)**掃描范圍:500×400(mm)
- XY掃描步長(zhǎng):0.1μm
- **掃描速度:500mm/s
- Z方向**測(cè)量范圍:27mm
- Z方向測(cè)量分辨率:2nm
產(chǎn)品應(yīng)用:
MEMS,、半導(dǎo)體材料、太陽(yáng)能,、摩擦磨損,、汽車、腐蝕,、砂紙,、巖石等。
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