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Dimension Edge 原子力顯微鏡

Dimension家族新成員,，閉環(huán)掃描，極高性價(jià)比

快速測(cè)量,、結(jié)果準(zhǔn)確、圖像分辨率高

測(cè)試范圍廣,，適用于任何樣品的測(cè)試

先進(jìn)的納米尺度測(cè)量,，適用于各技術(shù)水平

Dimension Edge

性價(jià)比高，大樣品臺(tái)AFM的解決方案

Dimension® Edge™ 原子力顯微鏡采用新技術(shù),， 其儀器性能,、測(cè)試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于高水平?；贒imension Icon^®平臺(tái),， Dimension Edge系統(tǒng)的整體設(shè)計(jì)使其 具有低漂移、低噪音的特點(diǎn),， 大大提高了數(shù)據(jù)獲取速度和可靠性,，使用這臺(tái)全新的儀器，幾分鐘時(shí)間即可獲得高質(zhì)量,、可發(fā)表的專業(yè)數(shù)據(jù),。這些檢測(cè)性能的提高，并沒有影響儀器的價(jià)格,，低于您對(duì)如此高性能原子力顯微鏡的支出預(yù)算,。此外，視覺反饋集成化和預(yù)配置可選功能輔助用戶獲得更高質(zhì)量的測(cè)量結(jié)果,。整套儀器充滿人性化的設(shè)計(jì),，適用于各個(gè)研究階段和科研水平的用戶。

性價(jià)比高的閉環(huán)Dimension系列AFM

**的傳感器設(shè)計(jì)既獲得了閉環(huán)的精度,，又具有 開環(huán)的噪音水平,。

顯著地降低噪音和漂移，在大樣品臺(tái)AFM上實(shí)現(xiàn) 了小樣品臺(tái)AFM的成像性能,。

顯微鏡和電路的設(shè)計(jì)既保證了高成像性能,，又使 得價(jià)格適中。

快速,，精確,，高分辨的測(cè)量結(jié)果

全新的可視化操作界面,，整體采用流程式設(shè)計(jì)，確?？焖俸啽愕脑O(shè)定各步驟參數(shù)

5百萬像素 的高分辨率相機(jī)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程平臺(tái),，提供快速樣品導(dǎo)航和高效多點(diǎn)測(cè)量

從大范圍掃描到高分辨檢測(cè)的無縫過渡 可在短時(shí)間內(nèi)獲得準(zhǔn)確結(jié)果。

適用于任何樣品上的任何應(yīng)用的解決方案

開放式平臺(tái)設(shè)計(jì)可適應(yīng)各種實(shí)驗(yàn)和樣品的需求,。

新儀器的設(shè)計(jì)和軟件利用了*完備的Bruke AFM掃描模式和檢測(cè)技術(shù),，滿足*前沿的應(yīng)用需求。

內(nèi)置的信號(hào)路由模塊,，幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實(shí)驗(yàn)需求,，自定義檢測(cè)模式。

先進(jìn)的納米級(jí)測(cè)量能力,，適用于各研究水平

創(chuàng)新型模塊化設(shè)計(jì),，不提高儀器成本的前提下，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)量性能,。

新的8型軟件,，凝聚10幾年AFM專業(yè)研發(fā)精華，常規(guī)掃描模式外,，根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求,，配備各種備選模式。

完整的控制平臺(tái),，既可直觀導(dǎo)航,，又可進(jìn)行強(qiáng)大的編程控制。

DIMENSION系列AFM提供了優(yōu)質(zhì)的AFM性能

Dimension Edge原子力顯微鏡既具有**性能,，保留了Dimension ICON系統(tǒng)的諸多技術(shù)創(chuàng)新,，中等價(jià)位的價(jià)格 與儀器功能達(dá)到了平衡。其中*核心的技術(shù)是 Bruker創(chuàng)新性的閉環(huán)掃描,，結(jié)合溫度補(bǔ)償位置傳感器和模 塊化的低噪音控制電路,，這套針尖掃描部件把閉環(huán)噪音減 小到了單個(gè)化學(xué)鍵長度。為了大限度的發(fā)揮這一優(yōu)點(diǎn),，掃描器被固定在一個(gè)堅(jiān)固的,，具有漂移補(bǔ)償?shù)臉蛄航Y(jié)構(gòu)上。此橋梁結(jié)構(gòu)基于FPGA的溫度控制并快速穩(wěn)定到極低的漂移速率,。因此,，Dimension Edge原子力顯微鏡結(jié)合了高生產(chǎn)效率，高精度,，大樣品臺(tái)的樣品通用性,，閉環(huán)操作 和以前僅在小樣品臺(tái)、開環(huán)儀器上才能獲得的高分辨率圖像等特點(diǎn)，能夠獲得任何樣品的真實(shí)圖像,，實(shí)現(xiàn)突破性的實(shí)驗(yàn)成果,。

完備的AFM功能

Dimension Edge既包含了各種常規(guī)的掃描模式和Bruker**技術(shù)，還提供了針對(duì)各種具體應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案,，例如納米級(jí)的電學(xué)測(cè)量,，可控環(huán)境下的材料表征等。這些功能都能夠在廣泛應(yīng)用中獲得精確成像和單點(diǎn)譜線測(cè)量,，例如從太陽能和半導(dǎo)體器件的表征和多相聚合物材料成像,，到從單分子到全細(xì)胞的生命科學(xué)樣品的原位成像和單個(gè)納米顆粒的研究。

電學(xué)表征

Dimension Edge不僅僅是把一個(gè)AFM探針連接到低噪音電流放大器上,，而是開發(fā)了Dark Lift模式,，Dark Lift是在導(dǎo)電原子力數(shù)據(jù)把光電效應(yīng)從樣品的本征電導(dǎo)性中清晰分離的方法。它是基于布魯克已申請(qǐng)**的,，應(yīng)用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中的抬起模式（Lift Mode）,。系統(tǒng)利用這兩種性能以確保在靜電電勢(shì)成像應(yīng)用的優(yōu)化測(cè)試。迄今為止,，結(jié)合了Dark Lift模式的閉環(huán)（常損耗量）的掃描電容顯微鏡（SCM）依然是對(duì)摻雜濃度表征的*精確的解決方案。然而,，如果研究者想要以高靈敏度來探測(cè)小電壓的變化,，也可很容易地把抬起模式 與表面電勢(shì)顯微鏡結(jié)合起來。Dimension Edge系統(tǒng)通過雙頻的方法,，能夠?yàn)槿魏戊o電電勢(shì)成像的應(yīng)用提高理想的解決方案,。