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石墨烯和2D材料表征
Onyx是市場上設(shè)計用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全區(qū)域非破壞性表征的系統(tǒng),。
Onyx彌補宏觀工具和納米工具之間的空白,，可以檢測從0.5 mm2到大面積（m2）的特征，從而增強研究材料的工業(yè)化水平,。與其他大面積測試方法（例如四探針方法）相比,，Onyx能夠測量樣品質(zhì)量的空間分布。與顯微方法（例如拉曼,，SEM和TEM）不同,，可以數(shù)百微米的空間分辨率快速表征大面積的樣品。
Onyx是一種超快速系統(tǒng),，用于石墨烯,，2D材料樣品或復(fù)雜涂層的大面積表面的非破壞性均勻性分析。
Onyx涵蓋了目前用于研究材料表征的宏觀尺度方法（光學(xué)顯微鏡,，直流電導(dǎo)率......）和納米尺度方法（拉曼共聚焦光譜,，AFM，TEM ......）之間的差距,。
該系統(tǒng)基于das-Nano專有的**方法,，通過單面（正反射）檢測提供任何材料的整個區(qū)域的電導(dǎo)，電阻,，折射率,，厚度和介電參數(shù),。結(jié)果是提供沉積均勻性的圖，并因此評估材料的整個區(qū)域生產(chǎn)的質(zhì)量,。該技術(shù)將使研究界提高其工作的效率和功效,，從而縮短產(chǎn)品和應(yīng)用的上市時間。此外,，該技術(shù)可以在線實施,，因此，在相同的評估方法中可以在未來的產(chǎn)品制造階段中使用
移動性和載流子密度
Onyx不斷改進其功能,，以提供新結(jié)果,，從而極大地提高其潛力。Onyx將移動性和載流子密度分析合并到其先前的功能中,。僅在一次測量中,，該系統(tǒng)即可精確提供以下物理屬性：直流電導(dǎo)，σDC,、直流電阻，RDC,、載流子散射時間,、載流子遷移率，μ漂移
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