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石墨烯和2D材料表征
Onyx是市場上設計用于提供石墨烯,、薄膜和其他2D材料的全區(qū)域非破壞性表征的系統(tǒng),。
Onyx彌補宏觀工具和納米工具之間的空白，可以檢測從0.5 mm2到大面積（m2）的特征,，從而增強研究材料的工業(yè)化水平,。與其他大面積測試方法（例如四探針方法）相比，Onyx能夠測量樣品質量的空間分布,。與顯微方法（例如拉曼,，SEM和TEM）不同，可以數(shù)百微米的空間分辨率快速表征大面積的樣品,。
Onyx是一種超快速系統(tǒng),，用于石墨烯，2D材料樣品或復雜涂層的大面積表面的非破壞性均勻性分析,。
Onyx涵蓋了目前用于研究材料表征的宏觀尺度方法（光學顯微鏡,，直流電導率......）和納米尺度方法（拉曼共聚焦光譜，AFM,，TEM ......）之間的差距,。
該系統(tǒng)基于das-Nano專有的**方法,，通過單面（正反射）檢測提供任何材料的整個區(qū)域的電導，電阻,，折射率,，厚度和介電參數(shù)。結果是提供沉積均勻性的圖,，并因此評估材料的整個區(qū)域生產(chǎn)的質量,。該技術將使研究界提高其工作的效率和功效，從而縮短產(chǎn)品和應用的上市時間,。此外,，該技術可以在線實施，因此,，在相同的評估方法中可以在未來的產(chǎn)品制造階段中使用
移動性和載流子密度
Onyx不斷改進其功能,，以提供新結果，從而極大地提高其潛力,。Onyx將移動性和載流子密度分析合并到其先前的功能中,。僅在一次測量中，該系統(tǒng)即可精確提供以下物理屬性：直流電導,，σDC,、直流電阻，RDC,、載流子散射時間,、載流子遷移率，μ漂移
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