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Apreo
功能*為豐富的高性能 SEM
Apreo 復(fù)合透鏡結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生****的高分辨率和材料對(duì)比度,。
Apreo 是研究納米顆粒,、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái),,而不會(huì)降低磁性樣品性能,。傳統(tǒng)的高分辨率 SEM 透鏡技術(shù)分為兩類:磁浸沒或靜電。FEI **將兩種技術(shù)結(jié)合到一個(gè)儀器中,。這樣做所產(chǎn)生的成效遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過任一種鏡筒的個(gè)體性能,。兩種技術(shù)均使電子束形成細(xì)小探針,以提高低電壓下的分辨率,,并使信號(hào)電子進(jìn)入鏡筒,。通過將磁透鏡和靜電透鏡組合成一個(gè)復(fù)合透鏡,不但提高了分辨率,,還增加了特有的信號(hào)過濾選項(xiàng),。靜電-磁復(fù)合末級(jí)透鏡在 1 kV 電壓下的分辨率為 1.0 nm(無電子束減速或單色器),。
Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1,其位置緊靠樣品以便盡可能多地收集信號(hào),,從而確保在很短的時(shí)間內(nèi)采集數(shù)據(jù),。與其他背散射探測器不同,這種快速的探測器始終可保證良好的材料對(duì)比度,,在導(dǎo)航時(shí),、傾斜時(shí)或工作距離很短時(shí)也不例外。在敏感樣品上,,探測器的價(jià)值凸現(xiàn)出來,,即使電流低至幾 pA,它也能提供清晰的背散射圖像,。復(fù)合末級(jí)透鏡通過能量過濾實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的材料對(duì)比度以及絕緣樣品的無電荷成像,,進(jìn)一步延伸了 T1 BSE 探測器的潛在價(jià)值。它還提供了流行選項(xiàng)來補(bǔ)充其探測能力,,例如定向背散射探測器(DBS),、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器 (GAD)。所有這些探測器都擁有****的軟件控制分割功能,,以便根據(jù)需求選擇*有價(jià)值的樣品信息,。
每個(gè) Apreo 都按標(biāo)準(zhǔn)配備各種用以處理絕緣樣品的策略,包括:高真空技術(shù),,例如 SmartSCAN™,、漂移補(bǔ)償幀積分(DCFI) 和電荷過濾。對(duì)于*有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用,,Apreo 可提供電荷緩解策略,。其中包括可選的低真空(**為 500 Pa)策略,通過經(jīng)現(xiàn)場驗(yàn)證的穿鏡式差分抽氣機(jī)構(gòu)和專用低真空探測器,,不但可以緩解任何樣品上的電荷,,還能提供**的分辨率和較大的分析電流。
隨著分析技術(shù)的使用越來越常規(guī)化,,Apreo 倉室經(jīng)過全新設(shè)計(jì),,以便更好地支持不同的配件和實(shí)驗(yàn)。倉室*多容納三個(gè) EDS/WDS 端口,,可實(shí)現(xiàn)快速敏感的 X 射線測量,、共面EDS/EBSD/TKD 排列并與(冷凍)CL、拉曼,、EBIC 和其他技術(shù)兼容,。
所有這些功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得,節(jié)省了新用戶和專家級(jí)用戶的時(shí)間,??勺远x的用戶界面提供了諸多用戶指導(dǎo),、自動(dòng)化和遠(yuǎn)程操作選項(xiàng)。
暫無數(shù)據(jù),!