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• JSM-7900F  熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

• JEOL新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機(jī)型,。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)的性能如極高的空間分辨率、高穩(wěn)定性,、多種功能等的同時(shí),，操作性能極大簡(jiǎn)單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能,，始終能夠發(fā)揮其**性能,。

JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)的如極高的空間分辨率,、高穩(wěn)定性,、多種功能等性能的同時(shí)，操作性能極大地簡(jiǎn)單化,。 該設(shè)備不依賴操作者的技能,，始終能夠發(fā)揮其**性能。

主要特點(diǎn)：

◇  Neo Engine（New Electron Optical Engine）

新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine（New Electron Optical Engine）,，是JEOL電子光學(xué)技術(shù)薈萃的結(jié)晶,。 它綜合了透鏡控制系統(tǒng)和自動(dòng)化技術(shù)，即使改變電子光學(xué)條件,，光軸的偏離也極小,，大大提高了可操作性及觀察精度。 無(wú)論是誰(shuí)都可以很簡(jiǎn)便地發(fā)揮出儀器原本的功能,。

①  提高了自動(dòng)功能

       樣品 : 用CP 制備的礦物截面（樹(shù)脂包埋）                 入射電壓 : 5 kV,，檢測(cè)器 : RBED，觀察倍率 : ×100,000

      不僅提高了自動(dòng)功能的精度,，而且只需要幾秒鐘就可以聚焦,。

②   提高了倍率的精度

       樣品 : 測(cè)長(zhǎng)用的樣品（MRS5）     入射電壓 : 10 kV， 觀察倍率: ×50,000

      大幅度地提高了倍率的精度,，而且實(shí)現(xiàn)了高精度測(cè)長(zhǎng),。

③ 能量過(guò)濾器更加易用

     樣品 : 名片        入射電壓 : 1.5 kV,， 檢測(cè)器 : UED， 觀察倍率 : ×3,500

     即使大幅度改變能量過(guò)濾器的設(shè)定值,，視野或聚焦位置基本不會(huì)偏離,。

◇ GBSH-S (GENTLEBEAM?  Super High resolution Stage bias mode)

GBSH 是在低加速電壓下提高分辨率的一種方法。 新開(kāi)發(fā)的GBSH-S可以給樣品臺(tái)施加高達(dá)5 kV的偏壓,。 因此,，使用GBSH模式不需要使用專(zhuān)用的樣品桿就可以無(wú)縫過(guò)渡到其他模式。

※GENTLEBEAM? 通過(guò)給樣品施加偏壓,，起到了對(duì)入射電子減速,，對(duì)出射電子加速的作用。

◇ 新型背散射電子檢測(cè)器　※ 選配件

采用新開(kāi)發(fā)的超高靈敏度的背散射電子檢測(cè)器,，可以在清晰的襯度下進(jìn)行觀察,。 靈敏度比以往的產(chǎn)品提高了很多，特別是在低加速電壓下能得到高襯度的成分像,。

舊機(jī)型                                                                             新機(jī)型

     樣品 : Cu的截面             入射電壓 : 3 kV     觀察倍率 : ×10,000  WD： 4.5 mm

◇ 新型外觀設(shè)計(jì)

     外觀設(shè)計(jì)緊湊,，大大節(jié)省了安裝空間，可以支持多種安裝環(huán)境,。

◇ 新的樣品交換方式

     采用新設(shè)計(jì)的樣品交換系統(tǒng)（load lock）,，操作簡(jiǎn)單了，不僅減少誤操作還提高了通量和耐用性,。

◇ SMILENAVI

SMILENAVI 是為初學(xué)者在短時(shí)間內(nèi)學(xué)會(huì)基礎(chǔ)操作而開(kāi)發(fā)的操作導(dǎo)航系統(tǒng),。 操作人員按照流程，只要點(diǎn)擊圖標(biāo),，SEM操作畫(huà)面就會(huì)聯(lián)動(dòng),，依照提示引導(dǎo)即可操作。

①  強(qiáng)調(diào)操作按鈕

只要將鼠標(biāo)光標(biāo)挪到SMILENAVI的指南鍵上,，SEM的GUI上的相應(yīng)鍵會(huì)出現(xiàn)方框,。

在SMILENAVI指南里點(diǎn)擊按鍵后，SEM的GUI會(huì)變成灰色來(lái)強(qiáng)調(diào)相應(yīng)鍵,。

②  顯示照片

在SMILENAVI的指南里點(diǎn)擊按鍵后,，會(huì)顯示該按鍵位置的照片。

③  顯示操作順序的視頻

       SMILENAVI的指南里有介紹操作順序的視頻,。

繼承了舊機(jī)型的高性能

◇ 浸沒(méi)式肖特基 Plus 電子槍

浸沒(méi)式肖特基Plus  FEG 通過(guò)與電子槍和低像差聚光鏡的組合,，性能進(jìn)一步得到改善，達(dá)到了更高的亮度,。  能有效地收集從電子槍發(fā)射出的電子,，即使在低加速電壓下，也能獲得數(shù)pA ～數(shù)10 nA  的探針電流,，不用交換物鏡光闌也能進(jìn)行高分辨觀察和快速元素面分布及EBSD 分析,。

◇ ACL（**光闌角控制鏡）

ACL（**光闌角控制鏡）位于物鏡的上方,，自動(dòng)優(yōu)化整個(gè)電流范圍內(nèi)的物鏡光闌角。 因此,，即使改變探針電流量,，也能調(diào)整入射電子的擴(kuò)散，始終可以獲取*小的電子束斑,。不管是高分辨觀察還是X 射線分析，對(duì)探針電流的大幅度變化都能輕松對(duì)應(yīng),。

◇ 超級(jí)混合式物鏡 / SHL

JSM-7900F 標(biāo)配了JEOL 開(kāi)發(fā)的電磁場(chǎng)疊加物鏡 —“超級(jí)混合式物鏡（SHL）”,，對(duì)任何樣品包括磁性和絕緣材料都能進(jìn)行超高空間分辨率觀察和分析。

◇ 檢測(cè)器系統(tǒng)

能夠同步采集多達(dá)4 種檢測(cè)器的信號(hào),。

標(biāo)配低位檢測(cè)器（LED）和高位檢測(cè)器（UED）,。 此外，還可以安裝選配件：可插拔式背散射電子檢測(cè)器（RBED）和高位二次電子檢測(cè)器（USD）,。

◇ 高空間分辨率觀察

利用GBSH,，即使在極低的加速電壓下也能進(jìn)行高分辨率觀察。

 GBSH下,，高空間分辨率觀察應(yīng)用

●  氧化物納米材料

     ● 金屬納米顆粒

◇ 低真空功能  ※選配件

利用低真空功能,，即使是絕緣材料也不需要對(duì)樣品噴涂導(dǎo)電層，并且能很容易地進(jìn)行觀察及測(cè)試,。JSM-7900F 在低真空下也擁有極高的空間分辨率,。

高倍率下的觀察應(yīng)用

 ● 玻璃

EDS分析應(yīng)用

● 食品

利用低真空功能，能容易地抑制絕緣材料產(chǎn)生的充放電效應(yīng),。