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原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ,，AFM）,，一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì),。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定,，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用,，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運動狀態(tài)發(fā)生變化,。掃描樣品時,，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息,，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息,。
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