參考價格
面議型號
LiteScope品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無誤差率:
-分辨率:
0.2 nm x 0.2 nm x 0.04 nm重現(xiàn)性:
-儀器原理:
其他分散方式:
-測量時間:
-測量范圍:
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AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)
產(chǎn)品簡介
革命性的原子力顯微鏡(AFM),可實現(xiàn)與掃描電子顯微鏡(SEM)的無縫集成,,為原位關(guān)聯(lián)顯微鏡開辟新可能,。
憑借優(yōu)化設(shè)計,LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾,、TESCAN,、蔡司、日立,、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件,,其他品牌電鏡亦可定制適配。
測量模式:
• 機(jī)械性能:AFM,,能量耗散,,相位成像
• 電性能:C-AFM、KPFM,、EFM,、STM
• 磁性能:MFM
• 電機(jī)械性:PFM
• 光譜學(xué):F-z
曲線,I-V 曲線
• 相關(guān)性分析:CPEM
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)
實用特點
原位樣品表征
在 SEM 內(nèi)部的原位條件下確保樣品分析同時,、同地、同條件下進(jìn)行,,并且在飛納電鏡內(nèi)部也能實現(xiàn)原子級分辨率
精確定位感興趣區(qū)域
SEM 與 AFM 原位聯(lián)用,,保證了同一時間、同一地點和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面,,實時觀測探針與樣品的相對位置,,為探針提供導(dǎo)航,精準(zhǔn)定位
實現(xiàn)復(fù)雜的樣品分析需求
提供電氣,、磁學(xué),、光譜等多種測量模式,且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能,。同時獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù),,并將其無縫關(guān)聯(lián)
應(yīng)用案例
鋼和合金的復(fù)合分析
利用原子力顯微鏡對雙相鋼進(jìn)行復(fù)合分析,揭示了表面形貌(AFM),、鐵 氧體晶粒的磁疇結(jié)構(gòu)(MFM),、晶粒相比(SEM)和表面電位雜質(zhì)開爾文 探針力顯微分析法。 • 相關(guān)多模態(tài)分析揭示了復(fù)雜的性質(zhì) • 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析
電池的原位表征
固態(tài)電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度,、更長的壽命和更 好的安全性,。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個周期后被打開,原位切割并使用 AFM-in-SEM 測量,。
樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)
• 在 CAM 橫截面處對局部電導(dǎo)率(C-AFM)進(jìn)行表征
• 無需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM
納米線的先進(jìn)表征
懸掛蜘蛛絲納米線因其獨特的機(jī)械性能而被研究,,通過超精確定位AFM 尖端在懸掛的納米線上。力-距離光譜學(xué)使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能,。
樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE),。
• SEM: 精確定位 AFM 尖端和納米線變形的實時觀察
• 分析屬性如楊氏模量和抗拉強(qiáng)度
選配件
納米壓痕模塊
納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時進(jìn) 行微機(jī)械實驗,并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進(jìn)行 分析
NenoCase 與數(shù)碼相機(jī)
在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨立 AFM 使用,,通過數(shù)碼 相機(jī)精確導(dǎo)航探針,。
樣品旋轉(zhuǎn)模塊
適用于 FIB 后進(jìn)行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進(jìn)行測試,。
暫無數(shù)據(jù),!
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2020-12-21
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2020-12-21
2020-12-21
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