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儀器簡介:
NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是業(yè)界將近場光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)和原子力顯微鏡(AFM)相技術(shù)相結(jié)合的領(lǐng)頭羊。公司成立于1997年,,NANONICS是業(yè)界成立*久并且對此類系列產(chǎn)品經(jīng)驗*豐富的公司之一,,其產(chǎn)品榮獲過許多國際大獎。在強大的NSOM/AFM的整合操作系統(tǒng)的推動下,,今天NANONICS繼續(xù)以強大的優(yōu)勢和全面的系統(tǒng)領(lǐng)導(dǎo)著市場,。NANONICS憑借著實力和品質(zhì),其產(chǎn)品涉足的領(lǐng)域從科研到工業(yè),,從生物學(xué)到半導(dǎo)體,,從化學(xué)制品到無線電通訊,應(yīng)用范圍極其廣泛,。
低溫NSOM/AFM擁有先進的系統(tǒng)設(shè)備,、環(huán)境友好的樣品反應(yīng)室,、化學(xué)藥品和氣體自動傳送系統(tǒng),;還有nano-印刷術(shù)系統(tǒng),,給消費者提供一個**的系統(tǒng)配置選擇。加上有AFM/NSOM/SEM的整合與AFM/NSOM/micro-Raman的整合系統(tǒng)這樣強大的成象結(jié)合,,可以讓用戶擁有**的實驗平臺來完成所有的材料表征應(yīng)用,。探針包括NSOM探針,micro-pipettes是檢測熱,、電性能的,,同時探針還可以提供氣體和液體加樣,這是Nanonics系列產(chǎn)品獨有的功能,,可以為提供用戶在很小的范圍內(nèi)做原位反應(yīng)等,。NAONICS系統(tǒng)兼容可所有供應(yīng)商提供的SPM探針。
Nanonics儀器設(shè)計的特點就是將不同的表征手段整合到一個平臺,,包括spm,、微拉曼光譜、電鏡,、共聚焦顯微鏡,、離子束、熱分析,、SHG等等都能實時或一起使用,。For the first time ever, Nanonics Imaging Ltd. in its drive for integrated microscopic solutions has now been able to fully and transparently integrate these two worlds.
技術(shù)參數(shù):
1、掃描方式:針尖掃描或樣品掃描,,AC模式,,接觸模式以及所有標準AFM模式
2、分辨率:
< 0.005 nm (Z方向)
< 0.015 nm (XY方向)
< 0.002 nm (XY方向) 低壓模式
3,、掃描范圍: XY方向70um,、Z方向70-120um,另外有30um和10um掃描器選配
4,、掃描步進:70um掃描器<1nm,、10um掃描器<0.1nm
5、掃描器厚度:7mm,;重量:75克
6,、**樣品尺寸:半徑16mm,另根據(jù)客戶需求可以選配任何合理尺寸,;
********************************探針*******************************
**特點:所有的商業(yè)化的探針均適用于當前的Nanonics NSOM操作
※NSOM探針
※AFM探針
※研究超低彈性模量的AFM探針
※專用于深溝的AFM探針
※中空的AFM探針
※玻璃絕緣的AFM傳感納米線
※雙線玻璃絕緣探針
※普通模式SPM探針
*******************************操作模式*****************************
※NSOM反射模式
※NSOM透射模式
※NSOM收集模式和收集暫時場模式
※NSOM熒光模式
※NSOM-PL模式
※三維共聚焦成像(透射,、反射、熒光)
※非接觸式NSOM,、液體(生物樣品)NSOM
************************Nanonics Analog控制器************************
※軟件包-NT,Win95/98,XP兼容,;
※實時圖像顯示,圖像獲取(高達8通道)及分析,,3D處理,;
※LabVIEW軟件包擁有4通道的數(shù)據(jù)采集功能;
主要特點:
*******************************應(yīng)用范圍寬****************************
1,、表面和材料科學(xué)
微納米結(jié)構(gòu)表征,、粗糙度、摩擦力,、高度分布,、自相關(guān)評估、軟性材料的彈性和硬度測試
2,、生物應(yīng)用
液體中完整活細胞成像,、細胞膜孔隙率和結(jié)構(gòu)表征
3、薄膜表征
孔隙率分析,、覆蓋率,、附著力、磨損特性,、納米顆粒,、島嶼分布
4、硬盤檢查
表面檢查和缺陷鑒定,、磁疇成像,、摩擦力和磨損方式和讀寫頭表征
5、半導(dǎo)體制造中的測試
高分辨率地定量結(jié)構(gòu)分析以及摻雜濃度的分布等各種材料特征
6,、失效分析
缺陷識別,、電性測量和鍵合電極大摩擦特性等
********************************測試獨特****************************
1、測試環(huán)境控制NSOM,,至液氦溫區(qū)和超高真空度
2,、環(huán)境控制操作與光學(xué)顯微鏡、微拉曼等完全兼容
3,、獨有的電學(xué)及熱學(xué)測量
暫無數(shù)據(jù),!