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JEM-ARM300F GRAND ARM品牌
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實現了世界**掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,,**加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡,。實現了世界**的STEM-HAADF像分辨率,。
實現了世界**掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,,**加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡,。實現了世界**的STEM-HAADF像分辨率,。
STEM-HAADF像的保證分辨率達到了****的58pm
采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴,、使用STEM球差校正器時),。
ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器 ※選配件
ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發(fā)的擴展軌道型12極球差校正器??梢栽谟脩衄F場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器,。
強大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300
標配了全新設計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析,。
兩種物鏡極靴
為了支持用戶廣泛的需求,,研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。
豐富的選購件
能安裝超大立體角EDS(能譜儀),、EELS(電子能量損失譜儀),、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
大范圍的加速電壓設置
標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,,使用范圍極廣,。
新開發(fā)的真空系統(tǒng)
新的排氣系統(tǒng)達到了極高的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,,**限度地減輕了對樣品的污染和損傷,。
高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺
整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度,, 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術基礎之上,,把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗干擾能力提高到新高度。
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