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飛納掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具
使用基于飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom SEM）的 ParticleMetric 顆粒測(cè)試工具,，以*快,、*簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步,?？焖佟⒁子煤统逦鷪D像質(zhì)量的 Phenom 飛納掃描電鏡,，加上 Particle Metric 顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。
基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案 ParticleMetric 能夠使用戶根據(jù)需要,，隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積,、當(dāng)量直徑、表面積,、外接圓直徑、比表面積,、周長(zhǎng),、寬高比、充實(shí)度,、伸長(zhǎng)率,、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸,、短軸長(zhǎng)度（橢圓）,、凸殼體、重心,、像素點(diǎn)數(shù),、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù)，*終實(shí)現(xiàn) ParticleMetric 加速顆粒物分析速度,、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的,。
飛納掃描電鏡顆粒工具ParticleMetric的功能
1.可進(jìn)行以下顆粒分析
顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm
顆粒探測(cè)速度：高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘
顆粒測(cè)量屬性：大小、形狀,、數(shù)量
2.可以測(cè)量的顆粒參數(shù)
面積,、當(dāng)量直徑、表面積,、外接圓直徑,、比表面積、周長(zhǎng),、寬高比
充實(shí)度,、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí),、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度（橢圓）
凸殼體,、重心,、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗?/span>
3.可以提供的圖形顯示
按數(shù)量或體積的線性,、對(duì)數(shù),、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖
任何指定參數(shù)的散點(diǎn)圖
單個(gè)顆粒的 SEM 圖像
4.可以提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報(bào)告，TIFF 格式的圖像
CSV 文件,，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）ProSuite 的一部分
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 工具的優(yōu)勢(shì)
1. 加載 ParticleMetric 軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像,，方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù)；
2. 全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng) ParticleMetric 軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡,、更好景深的視覺效果,，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù),；
3. ParticleMetric 軟件生成的柱狀圖,、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照指定格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性,，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖,。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)聯(lián)系和趨勢(shì),；
4. 直接由 Phenom 獲取圖像,，識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒,，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征,，比如直徑、充實(shí)度,、縱橫比和凹凸度,；
5. 便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡(jiǎn)單化和可視化；
6. 無限制的圖像采集,，可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤,，便于共享、交流或以后參考,；
7. Phenom 的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力,，用戶可以將試樣**程度視覺化；
8. 附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 軟件適合的應(yīng)用領(lǐng)域
化妝品行業(yè),；食品行業(yè),；化工行業(yè)；制藥行業(yè),；陶瓷,；顆粒以及表面涂層；顆粒狀添加劑；環(huán)境顆粒,；濾器/篩網(wǎng)公司
暫無數(shù)據(jù),！
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),，包括延安高架,、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車,、未載客的出租車等通行,。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),，而控制
2020-12-21
2020-12-21
在電子半導(dǎo)體行業(yè),，樣品制備對(duì)于失效分析至關(guān)重要。司特爾提供的制樣設(shè)備,，如精密切割,，真空浸漬鑲嵌和機(jī)械磨拋，確保樣品分析前的最佳處理效果,。使用氬離子研磨儀可以對(duì)樣品進(jìn)行無應(yīng)力的拋光或者切削處理,，便于后續(xù)
高校信賴之選,！安徽大學(xué)電鏡中心成功調(diào)試 DENS Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電桿,！近日，DENSsolutions 最新款 Lightning Arctic TEM 原位冷凍
近日,，飛納電鏡走進(jìn)福建農(nóng)林大學(xué)，成功舉辦了“飛納電鏡助力農(nóng)業(yè)研究技術(shù)交流會(huì)”,。本次交流會(huì)吸引了眾多生命科學(xué),、材料科學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域的老師和研究人員,，與會(huì)者對(duì)應(yīng)用案例的分享表現(xiàn)出極大的興趣，并進(jìn)行了深
用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時(shí)”,，Neoscan 顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究,！在地質(zhì)研究中，“時(shí)間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量,。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中,，巖漿從深部穿越地殼、與圍
半導(dǎo)體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ),，支撐著從計(jì)算到數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的一切功能,。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，精準(zhǔn)的失效分析變得至關(guān)重要,。AFM-in-SEM 失效分析：該技術(shù)直接集成于 FIB / SEM（聚焦離子
Nature Nanotechnology ｜ 原子層沉積賦能無鈷 LiNiO? 正極材料,，引領(lǐng)全固態(tài)鋰電池性能革新！ 發(fā)表文章：High-energy all-solid-st
飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的工作原理介紹,？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的使用方法,？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)多少錢一臺(tái)？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)使用的注意事項(xiàng)飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的說明書有嗎,？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的操作規(guī)程有嗎,？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)有現(xiàn)貨嗎,？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)包安裝嗎,？
移動(dòng)端
工商已核實(shí)
