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E3500 SiC 缺陷檢測設(shè)備品牌
昂坤視覺產(chǎn)地
北京樣本
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E3500是針對SiC材料的缺陷檢測設(shè)備,可以檢測SiC襯底,、同質(zhì)外延等的表面和熒光缺陷,。可以檢測并區(qū)分三角,、carrot,、downfall、micropipe,、SF,、BPD等缺陷,。支持4@、6@,、8@晶圓檢測,,具有高產(chǎn)能、高檢測精度的優(yōu)點,。
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