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蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用
蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用

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德國

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深圳華普通用科技有限公司

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靈活的探測,,4步工作流程,高級的分析性能

將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合,,利用成熟的 Gemini 電子光學元件,。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像,。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設置成像與分析步驟,,提高效率。

用于清晰成像的靈活探測

  • 利用先進探測術為您的需求定制 Sigma,,表征所有樣品,。

  • 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

  • 利用新一代的二次探測器,,獲取高達50%的信號圖像,。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像,。

自動化加速工作流程

  • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能,。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓首先,,先對樣品進行導航,,然后設置成像條件。

  • 首先,,先對樣品進行導航,,然后設置成像條件,。

  • 接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。使用工作流程的一步,,將結果可視化,。

高級分析型顯微鏡

  • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品,。

  • 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù),。

  • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果,。

基于成熟的 Gemini 技術

  • Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響,,并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果,。

  • Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率,,通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。

  • Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪比,。

用于清晰成像的靈活探測

  • 利用新的探測技術表征所有的樣品,。

  • 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。

  • 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像。

  • 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像,。

  • 利用 BSD 或者 YAG 探測器進行成份分析,。

配件

SmartEDX

為您帶來一體化能譜分析解決方案

如果單采用SEM成像技術無法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來進行顯微分析,。通過針對低電壓應用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于:

  • 優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應用,,并且由于氮化硅窗口優(yōu)的透過率,可以探測輕元素的低能X射線,。

  • 工作流程引導的圖形用戶界面極大地改善了易用性,,以及多用戶環(huán)境中的重復性。

  • 完整的服務和系統(tǒng)支持,,由蔡司工程師為您的安裝,、預防性維護及保修提供一站式服務。

拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

完全集成化的拉曼成像

在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結果,,獲得材料更豐富的表征信息,。通過擴展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,,您能夠獲得樣品的化學指紋信息,,從而指認其成分。

  • 識別分子和晶體結構信息

  • 可進行3D分析,,在需要時可關聯(lián)SEM圖像,、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù),。

  • 完全集成RISE讓您體驗由先進的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來的優(yōu)勢。

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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
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