看了FEI“Q系列”掃描電子顯微鏡的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
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對于失效分析,、質量控制和材料表征而言、Q25是*經(jīng)濟,、**效的高分辨成像和分析應用的解決方案,。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù),。
為應對不導電樣品,、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求,。Q25樣品室的設計和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品,、允許日常高效、快速檢測樣品,。
為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求,、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程,。另外、Q45加上了環(huán)境掃描(ESEM)模式,、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱,、含水或放氣的樣品。
為應對研究寬范圍的材料及結構及成分表征的需求,,F(xiàn)EI Q45 SEM為應對當今的寬范圍研究需求的挑戰(zhàn)提供了靈活性和多功能,。觀察任何樣品和獲得所有數(shù)據(jù):表面和成分像可以和附件結合起來確定材料的性能和元素組成
優(yōu)點
在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導電或不導電樣品。
樣品制備工作*少化,;低真空和環(huán)境掃描模式實現(xiàn)了無荷電成像及不導電樣品和/或含水樣品的分析
增加了除導電樣品之外的非導電樣品的分析能力,,利用多級穿過透鏡的抽氣系統(tǒng)在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析,。
利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結果,。
采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。
簡單易用,,即使是新手利用直觀的軟件可實現(xiàn)高效操作,。
簡單易用,即使是新手利用直觀的軟件可實現(xiàn)高效操作,。
利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結果,。
快速輕松表征導電和非導電樣品
在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導電或不導電樣品。
樣品制備工作*少化,;低真空和環(huán)境掃描模式實現(xiàn)了無荷電成像及不導電樣品和/或含水樣品的分析
支持可選的分析功能,。利用獨有的多級穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導電樣品和不導電樣品的精確EDS分析成為可能。
Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析,。
暫無數(shù)據(jù),!