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對(duì)于失效分析,、質(zhì)量控制和材料表征而言,、Q25是*經(jīng)濟(jì)、**效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案,。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性,、Q25可以讓用戶(hù)迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。
為應(yīng)對(duì)不導(dǎo)電樣品,、Q25提供了低真空模式下的高性能,、消除了對(duì)專(zhuān)用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計(jì)和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品,、允許日常高效,、快速檢測(cè)樣品。
為滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)大樣品或塊狀樣品的要求,、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺(tái)行程,。另外,、Q45加上了環(huán)境掃描(ESEM)模式、擴(kuò)展了SEM的成像和分析功能到加熱,、含水或放氣的樣品,。
為應(yīng)對(duì)研究寬范圍的材料及結(jié)構(gòu)及成分表征的需求,F(xiàn)EI Q45 SEM為應(yīng)對(duì)當(dāng)今的寬范圍研究需求的挑戰(zhàn)提供了靈活性和多功能,。觀察任何樣品和獲得所有數(shù)據(jù):表面和成分像可以和附件結(jié)合起來(lái)確定材料的性能和元素組成
優(yōu)點(diǎn)
在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導(dǎo)電或不導(dǎo)電樣品,。
樣品制備工作*少化;低真空和環(huán)境掃描模式實(shí)現(xiàn)了無(wú)荷電成像及不導(dǎo)電樣品和/或含水樣品的分析
增加了除導(dǎo)電樣品之外的非導(dǎo)電樣品的分析能力,,利用多級(jí)穿過(guò)透鏡的抽氣系統(tǒng)在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析,。
利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。
采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺(tái)可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動(dòng)態(tài)原位分析,。
簡(jiǎn)單易用,,即使是新手利用直觀的軟件可實(shí)現(xiàn)高效操作。
簡(jiǎn)單易用,,即使是新手利用直觀的軟件可實(shí)現(xiàn)高效操作,。
利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。
快速輕松表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品
在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導(dǎo)電或不導(dǎo)電樣品,。
樣品制備工作*少化,;低真空和環(huán)境掃描模式實(shí)現(xiàn)了無(wú)荷電成像及不導(dǎo)電樣品和/或含水樣品的分析
支持可選的分析功能。利用獨(dú)有的多級(jí)穿過(guò)透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導(dǎo)電樣品和不導(dǎo)電樣品的精確EDS分析成為可能,。
Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺(tái)可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動(dòng)態(tài)原位分析,。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!