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儀器介紹
近平行光入射到厚度變化均勻,、折射率均勻的薄膜/空氣間隙等物質(zhì)上,，其上下表面的反射光干涉而形成的干涉條紋。薄膜/空氣間隙厚度相同的地方形成同條干涉條紋,，故稱等厚干涉,。本實驗除了研究典型的牛頓環(huán)和楔形平板干涉以外，還研究了一些牛頓環(huán)裝置的變種,，如正交柱面鏡等形成的橢圓,，雙曲等干涉條紋現(xiàn)象。
可開設(shè)實驗列表
觀測牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象
測量平凸透鏡曲率半徑
觀測劈尖干涉現(xiàn)象
用劈尖干涉測量細(xì)絲直徑
觀測柱面鏡雙曲線干涉現(xiàn)象
通過柱面鏡橢圓曲線測量柱面鏡曲率半徑
規(guī)格參數(shù)
暫無數(shù)據(jù),！
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