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儀器介紹: 橢圓偏振法測(cè)量的原理很早就已提出,,相應(yīng)的測(cè)試方法和設(shè)備也不斷地被改進(jìn)和創(chuàng)新,使得橢圓偏振法成為重要的測(cè)試手段,,并廣泛地應(yīng)用在光學(xué),、材料、生物,、醫(yī)學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域,。其中測(cè)量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數(shù)是橢圓偏振法*基本,、*重要的應(yīng)用之一 ,。
儀器特點(diǎn): ●儀器采用消光式橢圓偏振方式測(cè)量
●精度高、自動(dòng)控制
●光源采用氦氖激光,,波長(zhǎng)精度高
●儀器采用USB接口與電腦連接
●配套軟件對(duì)采樣數(shù)據(jù)具有多種處理方式,,適用于不同需要
●軟件有完整版及學(xué)生版兩種版本,適于教學(xué)要求
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
測(cè)量楊氏模量
技術(shù)指標(biāo):
編號(hào) | 名稱 | 參數(shù) |
1 | 測(cè)量范圍 | 1nm~4000nm |
2 | 測(cè)量*小值 | ≤1nm |
3 | 鍍膜折射率范圍 | 1.300~10.000 |
4 | 入射角 | 40°~90° 誤差≤0.05° |
5 | 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0°~180° |
6 | 偏振器步進(jìn)角 | 0.0375°/步 |
7 | 測(cè)量精度 | ±0.5nm(10nm,,±0.5nm) |
8 | 光學(xué)中心高度 | 75mm |
9 | 工作臺(tái)直徑 | φ10mm~φ120mm |
10 | 厚度 | ≤10mm |
暫無數(shù)據(jù),!