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Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射線(xiàn)光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)在提供全自動(dòng),、高通量的多技術(shù)分析的同時(shí),,保持研究級(jí)的高質(zhì)量分析檢測(cè)結(jié)果。集成ISS,、UPS,、REELS、拉曼等多種分析技術(shù)于一身,,用戶(hù)因此能夠進(jìn)行真正意義上的聯(lián)合多技術(shù)分析,,從而為微電子、超薄薄膜,、納米技術(shù)開(kāi)發(fā)以及許多其他應(yīng)用進(jìn)一步取得進(jìn)展釋放潛能。
描述
材料分析和開(kāi)發(fā)
Nexsa 能譜儀具有分析靈活性,,可**限度地發(fā)現(xiàn)材料潛能,。在使結(jié)果保持研究級(jí)質(zhì)量水平的同時(shí),以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性,,從而實(shí)現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測(cè)和高通量,。
標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能:
·絕緣體分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技術(shù)聯(lián)合
·雙模式離子源,使深度剖析功能得到擴(kuò)展
·用于 ARXPS 測(cè)量的傾斜模塊
·用于儀器控制,、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
·小束斑分析
可選的升級(jí):可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測(cè)分析中,。式自動(dòng)運(yùn)行
·ISS:離子散射譜,分析材料*表面1-2原子層元素信息,,通過(guò)質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息,。
·UPS:紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價(jià)帶能級(jí)結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
·拉曼:拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
·REELS:反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測(cè)以及材料能級(jí)結(jié)構(gòu)和帶隙信息
SnapMap
借助 SnapMap 的光學(xué)視圖,聚焦于樣品特征,。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域,,同時(shí)生成完全聚焦的 XPS 圖像,以進(jìn)一步設(shè)置您的實(shí)驗(yàn),。
1.X 射線(xiàn)照射樣品上的一個(gè)小區(qū)域,。
2.收集來(lái)自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀
3.隨著樣品臺(tái)的移動(dòng),不斷收集元素圖譜
4.在整個(gè)數(shù)據(jù)采集過(guò)程中監(jiān)測(cè)樣品臺(tái)位置,,這些位置的圖譜成像用來(lái)生成 SnapMap
應(yīng)用領(lǐng)域
·電池
·生物醫(yī)藥
·催化劑
·陶瓷
·玻璃涂層
·石墨烯
·金屬和氧化物
·納米材料
·OLED
·聚合物
·半導(dǎo)體
·太陽(yáng)能電池
·薄膜
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