手機版
關(guān)于我們
加入收藏
安徽澤攸科技有限公司
1 年
白金會員
白金會員
已認證
撥打電話
獲取底價
提交后，商家將派代表為您專人服務(wù)
安徽澤攸科技有限公司
白金會員已認證
原位透射電子顯微分析方法是實時觀測和記錄位于電鏡內(nèi)部的樣品對于不同外部激勵信號的動態(tài)響應(yīng)過程的方法,，是當(dāng)前物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征科學(xué)中最新穎和最具發(fā)展空間的研究領(lǐng)域之一,。這一類分析方法按照實現(xiàn)方案和功能分可大致分為兩大類：
（1）基于MEMS芯片技術(shù)的原位解決方案。這類方案利用原位樣品桿搭載MEMS芯片，在TEM中可實現(xiàn)原位加熱,、電學(xué)測量,、液體和氣氛環(huán)境等功能。
（2）基于STM納米操縱技術(shù)的原位解決方案,。這類方案利用集成于原位樣品桿頭部的掃描探針單元,，結(jié)合I-V測量、光學(xué)-光電測量,、低溫或者力學(xué)測量單元,，在TEM中實現(xiàn)原位亞納米級操縱、電學(xué)測量,、光譜學(xué)-光電測量,、低溫環(huán)境以及力學(xué)測量等功能。
這兩種方案看似已經(jīng)覆蓋了所有原位施加激勵的可能性,，那么原位TEM分析方法的未來在哪里呢?
澤攸科技經(jīng)過不斷探索和鉆研,，給出了一種讓人腦洞大開的可能性：將STM技術(shù)與MEMS技術(shù)相結(jié)合。
公司作為目前全球唯一同時掌握高精度STM-TEM技術(shù)與高質(zhì)量MEMS芯片加工技術(shù)的原位TEM公司,，創(chuàng)新發(fā)布了MEMS-STM-TEM一體化解決方案：In-situ MST multi-fuctional Lab.
這種方案通過非常巧妙的設(shè)計,，將MEMS電學(xué)-加熱系統(tǒng)與STM系統(tǒng)（或光學(xué)-光電系統(tǒng)）集成在TEM樣品桿頭部狹小的空間中，可以對實驗樣品同時施加最多四種激勵信號,，結(jié)合TEM的原位觀測,，使研究者可以擺脫研究手段的束縛，站在更高的維度探索問題,。
這種方案看似順理成章,，卻不僅僅是簡單的”大雜燴“。小編水平有限,，提供幾個思路給大家參考下：
（1） 熱拉伸/壓縮（加熱芯片 + 電學(xué)探針）：在TEM中對材料進行熱拉伸/壓縮實驗,，結(jié)合電鏡原位觀測材料在這一過程中晶格結(jié)構(gòu)的對應(yīng)變化；
PS：這一過程中,，如有需要也可進一步外加電信號以及光學(xué)信號,，探究這些變量對實驗的影響。
（2） 熱電子發(fā)射/場發(fā)射（加熱芯片 + 電學(xué)探針）：在TEM中利用加熱芯片對材料進行加熱并作為陰極,，電學(xué)探針施加電場并作為陽極,，在加熱與電場的聯(lián)合作用下形成電流，再結(jié)合TEM原位觀測這一現(xiàn)象,；
PS：這一過程中,，如有需要也可進一步外加應(yīng)力以及光學(xué)信號，探究這些變量對實驗的影響,。
（3）三端器件測量（電學(xué)芯片 + 電學(xué)探針）：在TEM中利用電學(xué)芯片以及電學(xué)探針組成三端器件測量系統(tǒng),，結(jié)合TEM對三端器件進行精確測量及原位觀測,；
PS:這一過程中，如有需要也可進一步外加應(yīng)力及光學(xué)信號,，探究這些變量對實驗的影響,。
（4）電致發(fā)光譜（電學(xué)芯片 + 光纖探針）：在TEM中利用電學(xué)芯片對材料施加電信號并使材料發(fā)光，利用光纖探針收集光信號并外接光譜儀后形成電致發(fā)光譜,。
PS：這種方案相對與純光電探針桿優(yōu)勢在于可以施加多端電信號,，并且如有需要也可施加熱學(xué)及指定位置的應(yīng)力。
（5） 光電測量（電學(xué)芯片 + 光纖探針）：通過光纖探針外接的激光器給樣品施加光學(xué)信號,，通過電學(xué)芯片收集產(chǎn)生的光電流,。結(jié)合TEM原位觀測這一現(xiàn)象；
PS：如有需要,，也可施加熱學(xué)及指定位置的應(yīng)力,，并觀測這些變量對實驗的影響。
In-situ MST multi-fuctional Lab 不僅是一套高度集成于TEM內(nèi)的測量系統(tǒng),，甚至單獨拿出來也是一套高水平的研究設(shè)備,，是澤攸科技研發(fā)團隊經(jīng)過二十年的探索，給原位TEM分析手段的未來提供的第一份答案,。
最新動態(tài)
更多
虛擬號將在 秒后失效
使用微信掃碼撥號
上一篇