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深入理解先進(jìn)材料的微觀形貌,、結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分是科研和產(chǎn)品開發(fā)的關(guān)鍵所在。不論是從事下一代創(chuàng)新材料的研究,，還是致力于提升產(chǎn)品開發(fā)和制造水平,，掌握材料的微觀特性都是至關(guān)重要的。為了助力科研人員更深入地理解材料的微觀世界,，澤攸科技即將在10月17日的2024年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會上隆重推出創(chuàng)新產(chǎn)品——ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡,。
ZEM Ultra臺式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng),，不僅具有快速成像,、全自動操作等特點(diǎn)，具備抗震性和穩(wěn)定性,。ZEM Ultra配備了高亮度肖特基場發(fā)射電子源,，能夠提供2納米分辨率的圖像，并且支持高達(dá)50萬倍的放大倍數(shù),。這款電鏡不僅可以進(jìn)行二次電子(SE)成像,，還能進(jìn)行背散射電子(BSE)成像，并兼容能量色散X射線光譜儀(EDS)和電子背散射衍射(EBSD),，為用戶提供豐富的分析手段,。無論是金顆粒還是碳納米管，無論是磷酸鐵鋰還是二氧化硅,，ZEM Ultra都能輕松應(yīng)對,，為科學(xué)研究提供強(qiáng)大的工具支持。
二氧化硅與磷酸鐵鋰案例展示
碳納米管與鎢粉案例展示
這款設(shè)備展示了澤攸科技對于技術(shù)創(chuàng)新的不懈追求,，我們誠摯邀請您蒞臨2024年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會,，共同見證澤攸科技新品的發(fā)布，探索微觀世界的無限可能。
以上就是澤攸科技場發(fā)射臺掃即將亮相2024年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會的介紹,。
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