北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司
已認(rèn)證
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Quattro SEM為具有獨(dú)特環(huán)境真空功能的極靈活,、多功能高分辨率掃描電鏡,可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式(ESEM)相結(jié)合,,使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
Quattro的場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)確保了優(yōu)異的分辨率,,通過不同的探測(cè)器選項(xiàng),,可以調(diào)節(jié)不同襯度信息,包括定向背散射,、STEM和陰極熒光信息。來自多個(gè)多個(gè)探測(cè)器和探測(cè)器區(qū)分的圖像可以同步采集和顯示,,使得單次掃描即可獲得樣品信息,,從而降低電子束敏感樣品的束曝光并實(shí)現(xiàn)真正額動(dòng)態(tài)試驗(yàn)。Quattro的三種真空模式使得系統(tǒng)**靈活性,,可以容納*廣泛的樣品類型,,無論樣品導(dǎo)電、絕緣,、潮濕或是在高溫條件下,,均可獲得可靠的分析結(jié)果。Quattro獨(dú)特的硬件有用戶向?qū)еС?,不僅可以指導(dǎo)操作者,,還可以直接進(jìn)行交換,輕松縮短結(jié)果獲取時(shí)間,。
金屬及合金,、斷口、焊點(diǎn),、拋光斷面,、磁性及超導(dǎo)材料
陶瓷、復(fù)合材料,、塑料
薄膜/涂層
地質(zhì)樣品斷面,、礦物
軟材料:聚合物,、藥物、濾膜,、凝膠,、生物組織、植物材料
顆粒,、多孔材料,、纖維
水合/脫水/濕潤/接觸角分析
結(jié)晶/相變
氧化/催化
材料生成
拉伸(伴隨加熱或冷卻)
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