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使用飛納電鏡對 3D 打印金屬微彈簧進行原位電性能測試!

使用飛納電鏡對 3D 打印金屬微彈簧進行原位電性能測試,!
復(fù)納科技  2024-08-14  |  閱讀:870

微機電系統(tǒng)(MEMS)和許多其他微尺度電子元件都需要精細操作和電性能探測,。這些元件的分析在從學(xué)術(shù)研究到工業(yè)規(guī)模生產(chǎn)和質(zhì)量控制的多個領(lǐng)域中具有重要意義,。在這些情況下,通常需要在最短的時間內(nèi)獲得最佳結(jié)果,。在本篇應(yīng)用介紹中,,展示了在飛納臺式掃描電鏡(SEM)中進行微觀表征和原位電性能探針測試的新方法,該方法能夠快速,、精確地表征微尺度物件,。


01 3D 打印微彈簧  和掃描電鏡微觀表征

Exaddon 提供獨特的增材微加工技術(shù)(μAM),用于生產(chǎn)具有優(yōu)良材料性能的微尺度組件,,如微彈簧,。這些微彈簧有多種用途,包括用作探針陣列的接觸點,。Exaddon CERES μAM 系統(tǒng)能夠通過局部電沉積直接在芯片表面打印具有復(fù)雜幾何形狀的金屬物體,。通過這種方法,陣列中的每個彈簧可以得到不同的圈數(shù),、垂直間距和螺距,。


本篇應(yīng)用中,CERES μAM 系統(tǒng)被用在銅基板上 3D 打印微尺度銅彈簧,。所制得彈簧高 90 微米,,半徑 10 微米;金屬彈簧絲的直徑小于 4 微米,。表 1 總結(jié)了該微彈簧的物理性能和關(guān)鍵尺寸信息,。


表1 

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圖1 

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圖1. 由 Exaddon CERES μAM 系統(tǒng) 3D 打印的微彈簧,與 Imina Technologies miBot 探針尖端接觸。(飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL G2 拍攝)


02 在飛納電鏡中  對微彈簧進行原位電性能測試


為了表征其電氣和物理特性,,將 3D 打印的銅微彈簧放入飛納臺式掃描電鏡大倉室 Phenom XL G2 中,,并配備了來自 Imina Technologies 的集成原位電性能探測系統(tǒng)。該系統(tǒng)由 3 個 Imina Technologies miBot? 探針組成,,能夠自由移動并連接到顯微鏡外部的電控單元,。電性能探測、數(shù)據(jù)收集和結(jié)果導(dǎo)出都可以通過 Imina Technologies Precisio? 軟件進行管理,。


圖2

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圖2. 放置在飛納電鏡樣品臺上的 Imina Technologies miBot 探針


飛納臺式大倉室掃描電鏡 Phenom XL G2 集成的光學(xué)導(dǎo)航相機有助于 miBot 探針快速定位和接觸樣品,。優(yōu)于 8nm 的分辨率,可以快速高清成像使探針準確落在彈簧的接觸區(qū)域(約 15 微米),,并實時觀察其變形情況,。


圖3

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圖3. 使用飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL G2 對微彈簧進行 SEM 的實時成像


為了表征微彈簧,將 miBot 探針尖端放置在彈簧的接觸區(qū)域,,另一探針尖端接觸基板,。當?shù)谝粋€探針尖端逐漸壓縮微彈簧時,記錄其 I/V 特性,。該配置輕松測量了微彈簧的導(dǎo)電性,,并確定了形成良好電接觸所需的變形量。


本應(yīng)用結(jié)合了 Exaddon,、Imina Technologies  和飛納電鏡在銅微彈簧的生產(chǎn),、表征和成像方面的專業(yè)知識。Exaddon 提供了高質(zhì)量的 3D 打印微彈簧,,隨后利用 Imina Technologies 的原位電性能探測系統(tǒng)進行了表征,。整個實驗在飛納臺式大倉室掃描電鏡 Phenom XL G2 內(nèi)進行,可以對樣品進行快速導(dǎo)航,,并且能夠?qū)ξ椈蛇M行高分辨率 SEM 成像,。

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