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金屬顆粒的識別是清潔度分析的重要要求。近年來,，金屬顆粒的光學檢測通常是通過光澤度進行的,。根據(jù)實驗室經(jīng)驗，我們發(fā)現(xiàn)光學顯微鏡分析通常會導致錯誤的分類,，這可以通過使用掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）的檢測方法進行材料分析,，輕松避免金屬顆粒的誤識別。

光學顯微鏡與掃描電鏡檢測的原理是什么,？

金屬顆粒的光學顯微鏡檢測是基于光反射進行的，包含亮點的顆粒被分類為金屬雜質(zhì),。在所有其他情況下,，該顆粒被視為非金屬雜質(zhì)。在掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）的分析中,，會測量顆粒的 X 射線光譜,，從而識別其元素成分，實現(xiàn)精確的材料分類,。

所有金屬顆粒都會發(fā)光嗎,？

根據(jù)光反射原理的分析，要求濾膜上的金屬顆粒要反光發(fā)亮,。由于污染物顆粒在零件加工過程中暴露于液體,、高溫和摩擦環(huán)境中，因此它們的表面會因為腐蝕等原因而不反光,，呈現(xiàn)暗色,。這些金屬顆粒在光學顯微鏡下，會被錯誤地分類為非金屬顆粒,。

在如下示例中,，顯示了三種顆粒（鋅，鋼和鋁）,，這些顆粒通過光學顯微鏡確認為非金屬,。然而，通過掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）分析顯示了這些顆粒的金屬性質(zhì),。

光學顯微鏡嚴重低估了金屬顆粒的數(shù)量

下方案例顯示了與 SEM+EDX 相比,，光學顯微鏡分析存在重大誤差,。

由汽車供應商提供的同一片濾膜，分別進行了光學顯微鏡的顆粒分析以及 SEM+EDX 的測試分析,。通過比較結果顯示，光學顯微鏡檢測的金屬顆粒數(shù),，不到實際金屬顆粒的 1/60。

Phenom ParticleX 全自動分析系統(tǒng)

金屬顆?？煽啃詸z測,，對于組件功能（例如電子零件）有至關重要的作用，因此,，小編建議通過掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）的方法進行顆粒分析,，ParticleX 全自動清潔度分析系統(tǒng)是一個理想的選擇。而對于組件清潔的常規(guī)分析,，通過光學顯微鏡檢測的金屬顆粒數(shù)僅供參考,，顆粒總數(shù)是一個更值得信賴的參數(shù),。