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金屬顆粒的識(shí)別是清潔度分析的重要要求,。近年來，金屬顆粒的光學(xué)檢測通常是通過光澤度進(jìn)行的,。根據(jù)實(shí)驗(yàn)室經(jīng)驗(yàn),，我們發(fā)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡分析通常會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的分類，這可以通過使用掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）的檢測方法進(jìn)行材料分析,，輕松避免金屬顆粒的誤識(shí)別,。

光學(xué)顯微鏡與掃描電鏡檢測的原理是什么？

金屬顆粒的光學(xué)顯微鏡檢測是基于光反射進(jìn)行的,，包含亮點(diǎn)的顆粒被分類為金屬雜質(zhì)。在所有其他情況下,，該顆粒被視為非金屬雜質(zhì),。在掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）的分析中，會(huì)測量顆粒的 X 射線光譜,，從而識(shí)別其元素成分,，實(shí)現(xiàn)精確的材料分類。

所有金屬顆粒都會(huì)發(fā)光嗎,？

根據(jù)光反射原理的分析,，要求濾膜上的金屬顆粒要反光發(fā)亮。由于污染物顆粒在零件加工過程中暴露于液體、高溫和摩擦環(huán)境中,，因此它們的表面會(huì)因?yàn)楦g等原因而不反光,，呈現(xiàn)暗色。這些金屬顆粒在光學(xué)顯微鏡下,，會(huì)被錯(cuò)誤地分類為非金屬顆粒,。

在如下示例中，顯示了三種顆粒（鋅,，鋼和鋁）,，這些顆粒通過光學(xué)顯微鏡確認(rèn)為非金屬。然而,，通過掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）分析顯示了這些顆粒的金屬性質(zhì),。

光學(xué)顯微鏡嚴(yán)重低估了金屬顆粒的數(shù)量

下方案例顯示了與 SEM+EDX 相比，光學(xué)顯微鏡分析存在重大誤差,。

由汽車供應(yīng)商提供的同一片濾膜,，分別進(jìn)行了光學(xué)顯微鏡的顆粒分析以及 SEM+EDX 的測試分析。通過比較結(jié)果顯示,，光學(xué)顯微鏡檢測的金屬顆粒數(shù),，不到實(shí)際金屬顆粒的 1/60。

Phenom ParticleX 全自動(dòng)分析系統(tǒng)

金屬顆?？煽啃詸z測,，對于組件功能（例如電子零件）有至關(guān)重要的作用，因此,，小編建議通過掃描電鏡和能譜（SEM+EDX）的方法進(jìn)行顆粒分析,，ParticleX 全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)是一個(gè)理想的選擇。而對于組件清潔的常規(guī)分析,，通過光學(xué)顯微鏡檢測的金屬顆粒數(shù)僅供參考,，顆粒總數(shù)是一個(gè)更值得信賴的參數(shù),。