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掃描電鏡如何輕松高效地研究先進陶瓷材料,?

掃描電鏡如何輕松高效地研究先進陶瓷材料?
復納科技  2020-12-21  |  閱讀:2576

先進的陶瓷材料在航空航天,,電子,,醫(yī)療保健,新能源,,汽車等等行業(yè)均有著廣泛應用,。為滿足高熔點,高模量和硬度以及高耐腐蝕性和熱膨脹性等性能指標要求,,往往需要進行相應的性能優(yōu)化,。而性能跟晶粒尺寸和體積,微結構,,元素分布,,孔隙率和表面粗糙度是密切相關的。對此,,飛納臺式掃描電鏡可以為科研或生產(chǎn)人員提供多種有效表征方案,。

陶瓷的晶粒尺寸和微觀結構會影響材料的性能,。掃描電鏡(SEM)圖像用于量化晶粒尺寸和分布,可以指導陶瓷的生產(chǎn)條件,,通過優(yōu)化晶界和微觀結構,,以滿足特定性能指標的需求。

陶瓷晶粒尺寸和面積

對于下圖的高級陶瓷加熱元件材料,,背散射電子探測器(BSD)圖像顯示了不同材料襯度,。這樣可以輕松確定晶界并分析陶瓷材料的掃描電鏡(SEM)圖像,以確定晶粒尺寸和面積,。

陶瓷加熱元件的背散射電子圖像


相同陶瓷加熱元件的背散射電子圖像


許多陶瓷材料可以通過燒結產(chǎn)生所需的機械性能,。使用背散射電子圖像可以量化晶粒尺寸和覆蓋率。將全景拼圖與飛納臺式掃描電鏡(Phenom SEM)結合使用,,自動進行數(shù)據(jù)采集與統(tǒng)計分析,,實現(xiàn)完整的分析工作流程。

30 張掃描電鏡(SEM)圖的拼接圖像(左下方),??偛杉瘯r間不到 3 分鐘。分析拼接圖像的晶粒晶界,,如右下方所示,,結果顯示此陶瓷樣品的黑色為 5%,灰色為 78%,,白色為 17%,。利用晶粒尺寸與分布數(shù)據(jù)可對加工條件進行優(yōu)化,以滿足產(chǎn)品要求,。

高級陶瓷材料的 30 張 Phenom SEM 圖像的拼圖(左)和晶粒分析圖像(右)

除此之外,,你還可以使用飛納電鏡提供多種模塊,對陶瓷材料更全面的表征,,有了這些工具,,你的文章再也不缺炫酷的圖表數(shù)據(jù)啦。

下圖1,,利用顆粒系統(tǒng),,對第二相進行晶粒度統(tǒng)計,并導出柱狀圖,;圖2,,對材料表面進行 3D 立體重建,也可以進行粗糙度測量,;圖3,,利用纖維系統(tǒng),對陶瓷纖維直徑與方向進行統(tǒng)計,;圖4,,利用能譜對材料進行元素成分分析,。


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