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光譜薄膜測試儀 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement
應(yīng)用領(lǐng)域: IC fab,， MEMS， LED,， solar cell,， photonics， nano technologies.
設(shè)備特性: Angstrom Sun 光譜反射儀廣泛用于各種透明,、半透明薄膜測試.
•廣泛用于檢測各種薄膜的厚度,， 包括oxide， nitride,， photo resist,， metal oxide,， ITO.
•膜厚范圍可自20nm 到5000nm. 可選各種光譜范圍， 自UV 200nm到IR 1700nm.
•可具有高達12”直徑自動 mapping 功能,，軟件功能強大.
技術(shù)參數(shù)：
光譜薄膜測試儀 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement
應(yīng)用領(lǐng)域: IC fab,， MEMS， LED,， solar cell,， photonics， nano technologies.
設(shè)備特性: Angstrom Sun 光譜反射儀廣泛用于各種透明,、半透明薄膜測試.
•廣泛用于檢測各種薄膜的厚度,， 包括oxide， nitride,， photo resist,， metal oxide， ITO.
•膜厚范圍可自20nm 到5000nm. 可選各種光譜范圍,， 自UV 200nm到IR 1700nm.
•可具有高達12”直徑自動 mapping 功能,，軟件功能強大.
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光譜薄膜測試儀的工作原理介紹？光譜薄膜測試儀的使用方法,？光譜薄膜測試儀多少錢一臺,？光譜薄膜測試儀使用的注意事項光譜薄膜測試儀的說明書有嗎？光譜薄膜測試儀的操作規(guī)程有嗎,？光譜薄膜測試儀的報價含票含運費嗎,？光譜薄膜測試儀有現(xiàn)貨嗎？光譜薄膜測試儀包安裝嗎,？
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