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熱電特性評價裝置ZEM-3就是其中一種,。對于研究熱電材料的科學家來說ZEM-3是不可或缺的試驗裝置。ZEM-3可以精確地測定半導體材料,、金屬材料及其他熱電材料(BiTe,， PbTe， Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導率,。該產品在該領域處于No.1的地位,。主要原理和特點如下

該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的紅外線金面反射爐和控制溫度用的微型加熱源構成,。通過PID程序控溫,，采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率,。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出,。

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