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反射高能電子衍射儀(Reflection
High-Energy Electron Diffraction)是觀察晶體生長*重要的實(shí)時(shí)
監(jiān)測工具,。它可以通過非常小的掠射角將能量為10~30KeV的單能電子掠射到晶體表面,通過衍射斑
點(diǎn)獲得薄膜厚度,,組分以及晶體生長機(jī)制等重要信息,。因此反射高能電子衍射儀已成為MBE系統(tǒng)中
監(jiān)測薄膜表面形貌的一種標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。
R-DEC公司生產(chǎn)的反射式高能電子衍射儀,,以便于操作者使用的人性化設(shè)計(jì),,穩(wěn)定性和耐久性以
及擁有高亮度的衍射斑點(diǎn)等特長得到日本國內(nèi)及海外各研究機(jī)構(gòu)的一致好評(píng)和認(rèn)可。
用于有機(jī)薄膜晶體結(jié)構(gòu)檢測,。世界首創(chuàng),!歡迎來電詢問詳細(xì)技術(shù)資料!
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