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HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級(jí)光澤度**和相對(duì)測(cè)量的科學(xué)級(jí)儀器,主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定,,光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞,。可精確測(cè)量20°,、45°,、60°、75°,、85°的光澤度值,,以及**鏡面反射率分布曲線。**測(cè)量方式避免了相對(duì)測(cè)量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測(cè)板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測(cè)量誤差,,測(cè)量更加可靠,,系統(tǒng)角度精度高、測(cè)量重復(fù)性好,,測(cè)量精度國(guó)際**,。
?主要功能及技術(shù)指標(biāo):
1)主要功能:光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定,光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞,;
2)光澤度測(cè)量不確定度U≤0.7,,(k=3),滿足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求,。
3)光澤度**和相對(duì)測(cè)量可選
4)采用激光精密對(duì)準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)角度精確定位,,角度精度高達(dá)0.01°。
5)探測(cè)器接收立體角極小,,精確接收鏡面反射光,,完全符合ISO,ASTM,,GB,,TAPPI, JIS等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量幾何要求,。
6)光源與探測(cè)器通過(guò)濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V(λ),。
7)掃描指定角度范圍內(nèi)的鏡面反射率分布曲線,獲得更多材料表面分布特性,。
8)樣品尺寸:3*7cm
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