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產(chǎn)品簡介
PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設(shè)備，采用國際**的白光共聚焦技術(shù),，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,，具有測量精度高，速度快,，重復(fù)性好的優(yōu)點,，該儀器性價比高，可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀,。
產(chǎn)品特性
采用白光共聚焦色差技術(shù),，可獲得納米級的分辨率
測量具有非破壞性,，測量速度快,，精確度高
測量范圍廣,，可測透明、金屬材料,，半透明,、高漫反射，低反射率,、拋 光,、粗糙材料(金屬、玻璃,、木頭,、合成材料、光學(xué)材料,、塑料,、涂層、涂料,、漆,、紙、皮膚,、頭發(fā),、牙齒…)；
尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
不受環(huán)境光的影響
測量簡單,，樣品無需特殊處理
Z方向,，測量范圍大：為27mm
主要技術(shù)參數(shù)
掃描范圍：50×50（mm）
掃描步長：0.1μm
掃描速度：20mm/s
Z方向測量范圍：27mm
Z方向測量分辨率：2nm
產(chǎn)品應(yīng)用
MEMS、半導(dǎo)體材料,、太陽能,、摩擦磨損、汽車,、腐蝕,、砂紙、巖石等,。
暫無數(shù)據(jù),！
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