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AR-Meta，專業(yè)化的“超表面光場檢測系統(tǒng)”

μm 級器件尺寸 / 1.7μm 近紅外拓展 / 光場 + 焦距 + 成像分辨率

AR-Meta 超表面光場檢測系統(tǒng) 采用消除像差的光學(xué)設(shè)計,，以商用設(shè)備實現(xiàn) μm 量級超表面器件的原位,、寬譜段的透 / 反射光場測量,，并提供焦距、成像分辨率,、點擴(kuò)散函數(shù),、調(diào)制傳遞函數(shù)、斯特列爾比,、數(shù)值孔徑,、偏折效率等關(guān)鍵測量指標(biāo)分析。結(jié)合豐富的偏振器件,，為您帶來一款“專業(yè)化”的超表面與超透鏡光場檢測平臺,。

AR-Meta 超表面光場檢測系統(tǒng)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

超表面器件超表面器件在空間上具有復(fù)雜的光場調(diào)控能力，需要在微米尺度下掃描光場,。

超透鏡受限于設(shè)計規(guī)模和微納加工能力,，超透鏡難以實現(xiàn)較大口徑。面向折射型透鏡的傳統(tǒng)檢測工具已無法滿足該類器件的光學(xué)性質(zhì)表征需求,，針對超透鏡特點設(shè)計的檢測平臺應(yīng)運(yùn)而生,。

微透鏡口徑在數(shù)百微米以下的微透鏡及陣列，在集成光學(xué)中已開始發(fā)揮重要作用,，受限于透鏡口徑,，當(dāng)前缺乏商用化的微透鏡光學(xué)指標(biāo)檢測平臺。

AR-Meta 超表面光場檢測 在以上領(lǐng)域的應(yīng)用得益于如下幾個特點： 1 μm 量級測量區(qū)域 AR-Meta 基于 Olympus 商用顯微平臺,，配合消除像差的準(zhǔn)直及成像光路,，實現(xiàn)了 μm 量級超表面器件光場檢測； 2 超過 7 項關(guān)鍵指標(biāo) 圍繞超表面器件及超透鏡領(lǐng)域的研究熱點,，AR-Meta 形成了焦距,、成像分辨率 (含角向分辨率)、點擴(kuò)散函數(shù) (PSF),、調(diào)制傳遞函數(shù) (MTF),、斯特列爾比 (Strehl Ratio)、數(shù)值孔徑 (N.A.),、偏折效率 (Deflection Efficiency) 等超過 7 項衡量器件光學(xué)性質(zhì)的關(guān)鍵指標(biāo),； 3 *寬 380~1700nm 譜段 AR-Meta 內(nèi)部支持兩個譜段：可見和近紅外 (含 850nm，1310nm,，1550nm),，并通過高穩(wěn)定切換部件實現(xiàn)了兩者的切換，與之匹配的是可以通過外部接口,，引入多種波長的激光光源,； 4 反射 + 透射 AR-Meta 具有獨立的反射與透射兩套光路，能夠輕松實現(xiàn)反射情況下 0~20mm 縱深,，透射情況下 0~2mm 縱深的光場掃描,； 5 工程化設(shè)計 AR-Meta 在設(shè)計中充分考慮了光路切換的穩(wěn)定性,，實現(xiàn)了控制的自動化，保障良好用戶體驗,； 6 除此之外,，內(nèi)秉的線偏振與圓偏振器件，多種濾色片的選擇等,，使 AR-Meta 的應(yīng)用覆蓋了超表面檢測所需要的多數(shù)場合,。