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半導體材料能帶測試,，亞帶隙測量系統(tǒng)
該系統(tǒng)采用恒定光電流法分析半導體薄膜和各種光導材料的帶隙結構，是評價非晶硅和各種非晶半導體的理想方法,。
規(guī)格：
原理:恒流法(CPM)
光源:氙燈或鹵素燈
工作范圍:約4小時,，13 - 0.59 ev (300 - 2100 nm)
輻照面積:6 x6mm
輻照強度:2 nw-2mw
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