EM12是采用先進(jìn)的測量技術(shù),，針對中端精度需求的研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的精致型多入射角激光橢偏儀,。
EM12可在單入射角度或多入射角度下對樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測量,。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度,、折射率n和消光系數(shù)k,；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k,；亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k,。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的**厚度測量,。
EM12采用了量拓科技多項**技術(shù)。
特點(diǎn)：
次納米量級的高靈敏度
國際先進(jìn)的采樣方法,、高穩(wěn)定的核心器件,、高質(zhì)量的制造工藝實現(xiàn)并保證了能夠測量極薄納米薄膜，膜厚精度可達(dá)到0.2nm,。
1.6秒的快速測量
國際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計,，在保證精度和準(zhǔn)確度的同時，可在1.6秒內(nèi)快速完成一次測量,，可對納米膜層生長過程進(jìn)行測量,。
簡單方便的儀器操作
用戶只需一個按鈕即可完成復(fù)雜的材料測量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出,。豐富的模型庫,、材料庫方便用戶進(jìn)行高級測量設(shè)置。
應(yīng)用：
- EM12適合于中端精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質(zhì)量控制,。
- EM12可用于測量單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度,、折射率n及消光系數(shù)k；可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k,；可用于實時測量快速變化的納米薄膜的厚度,、折射率n和消光系數(shù)k。
- EM12可應(yīng)用的納米薄膜領(lǐng)域包括：微電子,、半導(dǎo)體,、集成電路、顯示技術(shù),、太陽電池,、光學(xué)薄膜、生命科學(xué),、化學(xué),、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲,、平板顯示,、聚合物及金屬表面處理等?？蓱?yīng)用的塊狀材料領(lǐng)域包括：固體（金屬,、半導(dǎo)體、介質(zhì)等），或液體（純凈物或混合物）,。
技術(shù)指標(biāo):
| 項目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號 | EM12 |
| 激光波長 | 632.8nm (He-Ne Laser) |
| 膜厚測量重復(fù)性（1） | 0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率測量重復(fù)性（1） | 2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 單次測量時間 | 與測量設(shè)置相關(guān),，典型1.6s |
| **的膜層范圍 | 透明薄膜可達(dá)4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準(zhǔn)確度） |
| 激光光束直徑 | 1-2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動調(diào)節(jié)，步進(jìn)5° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：±6.5mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° 樣品對準(zhǔn)：光學(xué)自準(zhǔn)直和顯微對準(zhǔn)系統(tǒng) |
| 樣品臺尺寸 | 平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm |
| **外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺 真空吸附泵 |
| 軟件 | ETEM軟件：- 中英文界面可選,；
- 多個預(yù)設(shè)項目供快捷操作使用,；
- 單角度測量/多角度測量操作和數(shù)據(jù)擬合；
- 方便的數(shù)據(jù)顯示,、編輯和輸出
- 豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫支持
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注：(1)測量重復(fù)性：是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn),、同一條件下連續(xù)測量25次所計算的標(biāo)準(zhǔn)差。
性能保證:
- 穩(wěn)定性的He-Ne激光光源,、先進(jìn)的采樣方法,，保證了高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度
- 高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)，保證了快速,、高精度的樣品方位對準(zhǔn)
- 穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計,、可靠的樣品方位對準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù),，保證了快速,、穩(wěn)定測量
- 分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和**厚度的測量
- 一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計,，使得系統(tǒng)操作簡單,、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間
- 一鍵式軟件設(shè)計以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫,，方便用戶使用
可選配件：
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