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膜厚測試儀
橢偏儀
應力雙折射儀，能夠快速、精準測量雙折射相位差及其空間分布和方向,。廣泛應用于玻璃、晶體,、聚合物薄膜,、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。
日本Photonic-lattice成立于1996年,，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心,，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術**世界,，并由此開發(fā)出的測量儀器,。
根據應用不同，我們特別開發(fā)出5款不同的的膜厚測試儀/橢偏儀,，每一款產品各具不同的特點,。
PHL緊湊型桌面式橢偏儀 SE-101
型號 | SE-101 |
重復性 | 厚度0.1nm，折射率0.001 |
測量速度 | 0.05秒/測量點 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 1mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 4英寸,， |
儀器尺寸和重量 | 250x175x218.3mm/4kg |
數據接口 | 千兆以太網（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
湊型桌面式橢偏儀 SE-102
型號 | SE-102 |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 0.05秒/測量點 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 1mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 4英寸,，1軸自動，2軸手動 |
儀器尺寸和重量 | 300x235x218.3mm/4kg |
數據接口 | 千兆以太網（攝像機信號）,，RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
快速映射橢偏儀 ME-110
型號 | ME-110 |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數據接口 | 千兆以太網（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
型號 | ME-110 |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.0055-0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數據接口 | 千兆以太網（攝像機信號）,，RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
允許厚度分布的測量，例如,，透明電極膜和取向膜與基底玻璃的透明基板
型號 | ME-110-T |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數據接口 | 千兆以太網（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
高速,，高解析度的表面分布測量
暫無數據,！
PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的工作原理介紹,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的使用方法？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101多少錢一臺,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101使用的注意事項PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的說明書有嗎,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的操作規(guī)程有嗎？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的報價含票含運費嗎,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101有現貨嗎,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101包安裝嗎？
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