看了PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
膜厚測試儀
橢偏儀
應力雙折射儀,，能夠快速、精準測量雙折射相位差及其空間分布和方向,。廣泛應用于玻璃,、晶體、聚合物薄膜,、鏡片,、晶片等質(zhì)量分析和控制領域。
日本Photonic-lattice成立于1996年,，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司,，尤其是其光子晶體制造技術**世界,，并由此開發(fā)出的測量儀器。
根據(jù)應用不同,，我們特別開發(fā)出5款不同的的膜厚測試儀/橢偏儀,，每一款產(chǎn)品各具不同的特點。
PHL緊湊型桌面式橢偏儀 SE-101
型號 | SE-101 |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 0.05秒/測量點 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 1mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 4英寸,， |
儀器尺寸和重量 | 250x175x218.3mm/4kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
湊型桌面式橢偏儀 SE-102
型號 | SE-102 |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 0.05秒/測量點 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 1mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 4英寸,，1軸自動，2軸手動 |
儀器尺寸和重量 | 300x235x218.3mm/4kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號）,，RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
快速映射橢偏儀 ME-110
型號 | ME-110 |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
型號 | ME-110 |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.0055-0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號）,，RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
允許厚度分布的測量，例如,，透明電極膜和取向膜與基底玻璃的透明基板
型號 | ME-110-T |
重復性 | 厚度0.1nm,，折射率0.001 |
測量速度 | 每分鐘1000個點以上 |
光源 | 636nm 半導體激光器 |
測量點 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
測量尺寸 | 6英寸 |
儀器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
數(shù)據(jù)接口 | 千兆以太網(wǎng)（攝像機信號），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | SE-View |
高速,，高解析度的表面分布測量
暫無數(shù)據(jù),！
PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的工作原理介紹,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的使用方法,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101多少錢一臺？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101使用的注意事項PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的說明書有嗎,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的操作規(guī)程有嗎,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101的報價含票含運費嗎？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101有現(xiàn)貨嗎,？PHL膜厚測試儀/橢偏儀SE-101包安裝嗎,？
手機版：
工商已核實
