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荷蘭SunLab Corescan,、Sherescan測試系統(tǒng)
針對網(wǎng)印,,燒結(jié)制程優(yōu)化的**工具
針對擴(kuò)散發(fā)射極方塊電阻生產(chǎn)高效率電池片,提高良率**工具
1,、通過CoreScan掃描Rs,,可以得到整個電池片的串聯(lián)電阻分布圖。從而判斷影響此因素的原因,,如:燒結(jié)溫度過高過低,、磷硅玻璃是否去除干凈,發(fā)射層是否平整均勻,,電極是否有虛印,、斷線等等。
2,、 通過ShuntScan掃描Rsh,,可以得到整個電池片的并聯(lián)電阻分布圖。判斷影響此項(xiàng)參數(shù)的原因,,如:銀鋁漿對正表面的污染,、刻蝕不足、過燒以及SiC層結(jié)是否有階梯等問題,。
3,、 通過VocScan掃描Voc,可以得到開壓分布圖,。判斷影響此項(xiàng)參數(shù)的原因,,如:BSF的均勻性、原材料的均勻性等。
4,、 通過LBIC Scan,,得到電流分布圖??梢耘袛啵涸牧先毕?,也可以說明鈍化或是鍍膜效果。
暫無數(shù)據(jù),!