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ATR衰減全反射探頭
Attenuated Total Reflectance Probe ATR探頭是測量吸光率在4000-5000 AU/cm 的樣品的理想產(chǎn)品,。它能夠直接插入樣品中,,不需要稀釋樣品就能獲得光譜。典型的應用包括純墨水樣品,、染色樣品和原油樣品的測量,。另外,如果探頭頂部的接觸樣品的折射率大于ATR探頭的藍寶石晶體的折射率,,或大于1.7,,ATR探頭可用作通用探頭。
ATR探頭被設計用于工業(yè)過程應用,,曾經(jīng)在10,,000psig的環(huán)境下接受測試。ATR探頭可以在315C的溫度下工作,。ATR探頭是個經(jīng)過三次反射的探頭,,并且可以穿透被測量波長的衰逝波/倏逝波,。
應用場景
ATR(attenuated total reflection,衰減全反射),,
定義:入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密-疏媒質(zhì)的界上全反射時,,光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場(見衰減波)量可以被耦合到金屬或半導體的表面上而使表面等離元(SP)或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象,。
利用光學中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出,。
應用:ATR在實際應用中,作為紅外光譜法的重要實驗方法之一,,從一開始便顯示出其獨特的優(yōu)勢和廣闊的應用前景,。由于其并不需要通過透過樣品的信號,而是通過樣品表面的反射信號獲得樣品表層有機成份的結(jié)構(gòu)信息,。不但簡化了樣品的制作過程,,而且極大地擴大了紅外光譜法的應用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣,,或者樣品制備過程十分復雜,、難度大、而效果又不理想的實驗成為可能,。因此,,被廣泛應用于塑料、纖維,、橡膠,、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析,。
詳細參數(shù)
型號 | 規(guī)格 |
推薦使用的光纖直徑: | 600 μm |
外部直徑: | 19 mm (0.75") |
探頭長度: | ~305 mm |
身體材料: | 316 不銹鋼(標準); Hastelloy C,, Titantium 和 Monel 也可用 |
晶體材料: | 藍寶石 |
密封: | 標準用Viton,也可選Chemraz,, Kalrez |
壓強限制: | 10,,000 psig |
光纖接頭: | SMA 905 |
溫度限制: | 300 oC |
波長范圍: | UV-NIR |
暫無數(shù)據(jù)!