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ATR衰減全反射探頭
Attenuated Total Reflectance Probe ATR探頭是測量吸光率在4000-5000 AU/cm 的樣品的理想產(chǎn)品,。它能夠直接插入樣品中,,不需要稀釋樣品就能獲得光譜。典型的應(yīng)用包括純墨水樣品,、染色樣品和原油樣品的測量,。另外,如果探頭頂部的接觸樣品的折射率大于ATR探頭的藍(lán)寶石晶體的折射率,,或大于1.7,,ATR探頭可用作通用探頭。
ATR探頭被設(shè)計(jì)用于工業(yè)過程應(yīng)用,,曾經(jīng)在10,,000psig的環(huán)境下接受測試。ATR探頭可以在315C的溫度下工作,。ATR探頭是個(gè)經(jīng)過三次反射的探頭,,并且可以穿透被測量波長的衰逝波/倏逝波。
應(yīng)用場景
ATR(attenuated total reflection,,衰減全反射),,
定義:入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密-疏媒質(zhì)的界上全反射時(shí),光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場(見衰減波)量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元(SP)或表面極化激元共振激發(fā),。全反射的光強(qiáng)因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象,。
利用光學(xué)中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
應(yīng)用:ATR在實(shí)際應(yīng)用中,,作為紅外光譜法的重要實(shí)驗(yàn)方法之一,,從一開始便顯示出其獨(dú)特的優(yōu)勢和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號(hào),,而是通過樣品表面的反射信號(hào)獲得樣品表層有機(jī)成份的結(jié)構(gòu)信息,。不但簡化了樣品的制作過程,,而且極大地?cái)U(kuò)大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣,,或者樣品制備過程十分復(fù)雜,、難度大、而效果又不理想的實(shí)驗(yàn)成為可能,。因此,,被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維,、橡膠,、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析,。
詳細(xì)參數(shù)
型號(hào) | 規(guī)格 |
推薦使用的光纖直徑: | 600 μm |
外部直徑: | 19 mm (0.75") |
探頭長度: | ~305 mm |
身體材料: | 316 不銹鋼(標(biāo)準(zhǔn)); Hastelloy C,, Titantium 和 Monel 也可用 |
晶體材料: | 藍(lán)寶石 |
密封: | 標(biāo)準(zhǔn)用Viton,也可選Chemraz,, Kalrez |
壓強(qiáng)限制: | 10,,000 psig |
光纖接頭: | SMA 905 |
溫度限制: | 300 oC |
波長范圍: | UV-NIR |
暫無數(shù)據(jù),!