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X射線單晶衍射儀
X-ray Single Crystal Diffractometer System
1.用途及特點:
測定新化合物(晶態(tài))分子的準(zhǔn)確三維空間(包括鍵長,、鍵角、構(gòu)型,、構(gòu)象乃至成鍵電子密度)及分子在晶格中的實際排列狀況,;可以提供晶體的晶胞參數(shù)、所屬空間群,、晶體分子結(jié)構(gòu),、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構(gòu)型及構(gòu)象等結(jié)構(gòu)信息。它廣泛用于化學(xué)晶體學(xué),、分子生物學(xué),、藥物學(xué)、礦物學(xué)和材料科學(xué)等方面的分析研究,。
精確測定無機物,、有機物和金屬配合物等結(jié)晶物質(zhì)的三維空間結(jié)構(gòu)和電子云密度,分析孿晶,、無公度晶體,、準(zhǔn)晶等特殊材料結(jié)構(gòu);可精確測定無機分子,、有機分子,、礦質(zhì)材料以及大生物分子的結(jié)構(gòu),提供全面的結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù),,并可按不同要求提供各種結(jié)構(gòu)圖,、動態(tài)圖。
2. 系統(tǒng)總體構(gòu)成:
高性能混合像素光子直讀探測器,;
kappa 四圓測角儀,;
X 射線金屬陶瓷管(Mo 或 Cu);
X 射線發(fā)生器,;
單毛細(xì)管光學(xué)器件,;
晶體樣品液氮低溫系統(tǒng);
晶體樣品監(jiān)視系統(tǒng),;
X 光管的循環(huán)冷卻水裝置,;
計算機控制系統(tǒng);
系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)收集及數(shù)據(jù)分析軟件,。
3. 主要技術(shù)參數(shù):
3.1 X 射線發(fā)生器和光路系統(tǒng):
3.1.1 X 射線發(fā)生器**輸出功率: 3000W,;
3.1.2 **管電壓/通道:60 KV;
3.1.3 **管電流/通道:50 ma,;
3.1.4 電流電壓穩(wěn)定度: 8 小時內(nèi)變化不超過± 0.1%,;
3.1.5 X 射線管保護:過電壓,、過電流、冷卻水異常保護,;
3.2 測角儀:
3.2.1 類型: kappa 四圓測角儀,,步進馬達定位,四個角度均可自由轉(zhuǎn)動,,滿足常規(guī)晶體結(jié)構(gòu)分析和專業(yè)晶體學(xué)研究需要,;
3.2.2 角度分辨率:Omega 和 Theta 0.0001 度,Kappa 0.001 度,,Phi 0.001 度,;
3.2.3 掃描速度范圍 0.005 - 3.0 度/秒;
3.2.4 theta 臂具有通用性,,與公司所提供的其他探測器兼容,;
3.3. 晶體對中監(jiān)視系統(tǒng):CCD 攝像頭加放大鏡頭,安裝在儀器內(nèi)部用于樣品對心與調(diào)整,;
3.4 探測器:DECTRIS Pilatus混合像素光子計數(shù)探測器,;
3.5 高性能計算機實現(xiàn)儀器控制及數(shù)據(jù)采集;
3.6 系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理軟件:包括控制,、維護,、數(shù)據(jù)收集、數(shù)據(jù)還原和數(shù)據(jù)分析程序,,以及處理孿晶和晶面吸收校正等功能,。收集數(shù)據(jù)和還原數(shù)據(jù)同步進行;
3.7 液氮低溫系統(tǒng):溫度范圍 120 - 400 K,,控溫精度:± 0.1 K,。
暫無數(shù)據(jù)!