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X射線單晶衍射儀
X-ray Single Crystal Diffractometer System
1.用途及特點:
測定新化合物(晶態(tài))分子的準確三維空間(包括鍵長,、鍵角、構型,、構象乃至成鍵電子密度)及分子在晶格中的實際排列狀況,;可以提供晶體的晶胞參數、所屬空間群,、晶體分子結構,、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構型及構象等結構信息,。它廣泛用于化學晶體學,、分子生物學、藥物學,、礦物學和材料科學等方面的分析研究,。
精確測定無機物、有機物和金屬配合物等結晶物質的三維空間結構和電子云密度,,分析孿晶,、無公度晶體,、準晶等特殊材料結構;可精確測定無機分子,、有機分子,、礦質材料以及大生物分子的結構,提供全面的結構數據,,并可按不同要求提供各種結構圖,、動態(tài)圖。
2. 系統(tǒng)總體構成:
高性能混合像素光子直讀探測器,;
kappa 四圓測角儀,;
X 射線金屬陶瓷管(Mo 或 Cu);
X 射線發(fā)生器,;
單毛細管光學器件,;
晶體樣品液氮低溫系統(tǒng);
晶體樣品監(jiān)視系統(tǒng),;
X 光管的循環(huán)冷卻水裝置,;
計算機控制系統(tǒng);
系統(tǒng)控制和數據收集及數據分析軟件,。
3. 主要技術參數:
3.1 X 射線發(fā)生器和光路系統(tǒng):
3.1.1 X 射線發(fā)生器**輸出功率: 3000W,;
3.1.2 **管電壓/通道:60 KV;
3.1.3 **管電流/通道:50 ma,;
3.1.4 電流電壓穩(wěn)定度: 8 小時內變化不超過± 0.1%,;
3.1.5 X 射線管保護:過電壓、過電流,、冷卻水異常保護,;
3.2 測角儀:
3.2.1 類型: kappa 四圓測角儀,步進馬達定位,,四個角度均可自由轉動,,滿足常規(guī)晶體結構分析和專業(yè)晶體學研究需要;
3.2.2 角度分辨率:Omega 和 Theta 0.0001 度,,Kappa 0.001 度,,Phi 0.001 度;
3.2.3 掃描速度范圍 0.005 - 3.0 度/秒,;
3.2.4 theta 臂具有通用性,,與公司所提供的其他探測器兼容;
3.3. 晶體對中監(jiān)視系統(tǒng):CCD 攝像頭加放大鏡頭,,安裝在儀器內部用于樣品對心與調整,;
3.4 探測器:DECTRIS Pilatus混合像素光子計數探測器;
3.5 高性能計算機實現儀器控制及數據采集,;
3.6 系統(tǒng)控制和數據處理軟件:包括控制,、維護,、數據收集、數據還原和數據分析程序,,以及處理孿晶和晶面吸收校正等功能,。收集數據和還原數據同步進行;
3.7 液氮低溫系統(tǒng):溫度范圍 120 - 400 K,,控溫精度:± 0.1 K,。
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