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產(chǎn)品創(chuàng)新點(diǎn)
上市時(shí)間:2019年3月
(1)高測(cè)量性能 ,垂直方向分辨率高,,重現(xiàn)性好,,測(cè)量速度快,測(cè)量視野廣,,無(wú)損傷測(cè)量
(2)易于使用的操作界面
(3)ISO 25178參數(shù)對(duì)比工具
(4)硬件全面升級(jí)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
在半導(dǎo)體、汽車,、食品,、醫(yī)藥品等產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的材料研究和開(kāi)發(fā)方面,為了提高產(chǎn)品的性能與功能,,對(duì)產(chǎn)品表面的粗糙度,、凸凹不平、翹曲等表面形狀的評(píng)估變得尤其重要,。以往,,表面形態(tài)的測(cè)量方法,一般是采用觸針式粗糙度測(cè)量?jī)x等進(jìn)行二維測(cè)量(線+高差),,但近年來(lái),,伴隨著材料的薄膜化和微細(xì)構(gòu)造化的加速,需要獲取更多的信息,,因此,,采用掃描型白光干涉顯微鏡*2和激光顯微鏡*3等進(jìn)行三維測(cè)量(面+高差)便得到了靈活應(yīng)用。
此外,,2010年制定了有關(guān)三維表面形態(tài)評(píng)估的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 25178,,確立了評(píng)估方法,在這種背景下,,實(shí)施三維測(cè)量的企業(yè)和研究機(jī)構(gòu)等日益增多,。因此,需要我們急切實(shí)現(xiàn)有關(guān)表面形態(tài)測(cè)量上的測(cè)量與分析的簡(jiǎn)單化以及應(yīng)對(duì)多種樣品的測(cè)量問(wèn)題,。
此次發(fā)售的“VS1800”產(chǎn)品,, 搭配了符合ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)的分析工具 “ISO 25178參數(shù)對(duì)比工具”。在ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了評(píng)估表面性狀的32個(gè)項(xiàng)目的參數(shù),,但在對(duì)比樣品時(shí),,選擇*適合評(píng)估的參數(shù)很難,成為分析業(yè)務(wù)的難題,?!癐SO 25178參數(shù)對(duì)比工具”,通過(guò)按差異程度大小順序自動(dòng)對(duì)測(cè)量的參數(shù)值進(jìn)行依次排序,,可輕松選出*適合對(duì)比樣品的參數(shù),,從而支持客戶的分析業(yè)務(wù)。
此外,,“VS1800” 產(chǎn)品,,通過(guò)光干涉方法*4除了可實(shí)現(xiàn)大視野測(cè)量、0.01nm的垂直方向分辨率*5,、高重現(xiàn)性外,,亦通過(guò)日立高新技術(shù)科學(xué)自主研發(fā)的技術(shù),,繼承了多層膜的無(wú)損傷測(cè)量等傳統(tǒng)產(chǎn)品的高測(cè)量性能。此外,,該產(chǎn)品還可搭配“大傾斜角測(cè)量選配 ”*6功能,,通過(guò)捕捉大傾斜角斜面的微弱的干涉條紋變化,實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)的光干涉方式無(wú)法實(shí)現(xiàn)的大傾斜角斜面測(cè)量,,從而應(yīng)對(duì)多種多樣的樣品表面性狀的三維測(cè)量,。
*1 ISO 25178:規(guī)定表面形態(tài)評(píng)估方法的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),。
*2掃描型白色干涉顯微鏡:利用光干涉原理進(jìn)行非接觸式、無(wú)損傷的表面形態(tài)測(cè)量的測(cè)量設(shè)備,。
*3激光顯微鏡:將激光作為光源進(jìn)行表面形態(tài)測(cè)量的測(cè)量設(shè)備,。
*4光干涉方法:是利用兩列或兩列以上的光波相互疊加而出現(xiàn)光明暗(干涉條紋)現(xiàn)象(干涉)的檢查方法。
*5 0.01 nm的垂直方向分辨率為Phase模式時(shí)的性能,。
*6“大傾斜角測(cè)量選配”為選擇項(xiàng)目,。
【主要特點(diǎn)】
(1)高測(cè)量性能
a.垂直方向分辨率:利用光干涉方法,通過(guò)獨(dú)自的算法,,實(shí)現(xiàn)0.01 nm*的垂直方向分辨率
b.重現(xiàn)性:利用干涉條紋測(cè)量凸凹的高度,,通過(guò)將來(lái)自Z驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的影響*小化,實(shí)現(xiàn)0.1 %以下的重現(xiàn)性
c.測(cè)量速度:由于不需要樣品的前處理,,只要將樣品放置在樣品臺(tái)上即可完成測(cè)量準(zhǔn)備,。通過(guò)光干涉方法* 快5秒鐘即可完成測(cè)量
d.測(cè)量視野:以從干涉條紋獲取的信息為基礎(chǔ)進(jìn)行凸凹高度的測(cè)量,由此可實(shí)現(xiàn)廣范圍(One-shot* 大6.4 mm×6.4 mm)測(cè)量與高垂直方向分辨率的兩者兼顧,。此外,,通過(guò)連接多個(gè)數(shù)據(jù)的圖像,可進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)廣范圍的分析
e.無(wú)損傷測(cè)量:通過(guò)日立高新技術(shù)科學(xué)自主研發(fā)的技術(shù),,對(duì)玻璃和薄膜等透明多層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行測(cè)量時(shí),無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行加工切割成截面,,即可在無(wú)損傷的情況下,,完成多層結(jié)構(gòu)樣品的各層厚度或異物混入狀況的確認(rèn)以及缺陷分析等
* Phase模式時(shí)
(2) 易于使用的操作界面
采用直觀易懂的操作界面,能夠輕而易舉地進(jìn)行圖像分析處理前后的圖像對(duì)比,,從而支持分析時(shí)的*合適圖像處理選擇,。此外,可簡(jiǎn)單地列出處理與分析的內(nèi)容,、創(chuàng)建獨(dú)自的分析參數(shù),、重復(fù)使用分析參數(shù)等,,并且還可批量處理數(shù)據(jù),由此實(shí)現(xiàn)統(tǒng)一管理多個(gè)樣品和分析結(jié)果,,減輕繁瑣復(fù)雜的后處理,。
(3) ISO 25178參數(shù)對(duì)比工具
在對(duì)比多個(gè)樣品時(shí),通過(guò)將ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的32項(xiàng)參數(shù)值按差異的大小順序重新排列,,從而在樣品對(duì)比時(shí)能夠輕松選取*適參數(shù),,支持客戶的分析業(yè)務(wù)。
(4) 硬件升級(jí)
按每一臺(tái)XY樣品臺(tái)的驅(qū)動(dòng)方式,,設(shè)計(jì)了3個(gè)類型的產(chǎn)品,,即基礎(chǔ)模式的手動(dòng)型Type 1、電動(dòng)型Type 2,、Type 3,。從Type 1到Type 2、Type 3,,均可根據(jù)不同的用途進(jìn)行升級(jí),。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!