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歐洲高性能霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料,、低阻材料和高阻材料等物理性能的研究,;可對多種重要物理參量如:電阻率、霍爾系數(shù),、載流子濃度,、遷移率、磁電阻和V-I曲線等測量和分析,;
可測試材料: 半導(dǎo)體材料:包括 SiGe,, SiC, InAs,, InGaAs,, InP, AlGaAs,, and HgCdTe,,磚石鐵,氧體材料;
低阻材料:包括金屬,、透明氧化物,、稀磁半導(dǎo)體器件和TMR材料
高阻材料:包括半導(dǎo)體絕緣材料、GaAs,、GaN,、CdTe和光電探測器
技術(shù)參數(shù):
電流源:
測量范圍: 1nA - 10 mA
輸出電壓: +/- 10V (+/-20V)
輸出電阻: typical 1013 Ohms
電流分辨率: 25 pA
電壓測量:
測量范圍: 10 mV - 10V(自動量程選擇)
分辨率 : <500nV
輸入電阻: > 1013 Ohms
磁場范圍:0.45T~2T(牛津磁體);
電阻測量范圍: 1x10-3 Ohm - 1x109 Ohm
電阻率測量范圍: 1 x10-5 Ohm*cm - 1x107 Ohm*cm
載流子濃度范圍: 107 cm-3 - 1021 cm-3
主要特點(diǎn):
電阻率Rho測量,;
霍爾系數(shù)RH測量,;
V-I曲線測量;
VH電壓測量,;
載流子濃度測量,;
載流子遷移率測量;
載流子形式測量(n or p);
磁電阻等,;
獨(dú)有的非線性電壓補(bǔ)償功能,;
磁場大小可調(diào);
自動磁場校準(zhǔn),;
低溫選件:77K,;
Van der Pauw和橋式barshape測量;
暫無數(shù)據(jù),!