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重金屬含量檢測(cè)儀

全反射X射線(xiàn)熒光光譜儀的工作原理（TXRF）

X射線(xiàn)熒光光譜分析法(XRF)的原理：原子受原級(jí)X射線(xiàn)激發(fā)后，發(fā)出次級(jí)X射線(xiàn)熒光,。因此,，XRF 分析法可以：

根據(jù)熒光的波長(zhǎng)和能量,，確定元素；

各元素的濃度可根據(jù)熒光的強(qiáng)度進(jìn)行計(jì)算,。

X射線(xiàn)由Mo靶或W靶產(chǎn)生,，在Ni/C人工多層膜上反射并單色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射裝有樣品的樣品架,，并產(chǎn)生全反射,。樣品所產(chǎn)生的特征熒光被能量色散探測(cè)器(XFlash® detector) 探測(cè)，強(qiáng)度通過(guò)偶合的多通道分析器測(cè)量,。

與常規(guī)的XRF*大的不同,，全反射熒光（TXRF）是使用了單色光和全反射光學(xué)部件。以全反射光束照射樣品,，降低了吸收,、以及樣品及襯底材料對(duì)光的散射。結(jié)果是大大降低了背景噪音,，因此有高的多的靈敏度和明顯地降低了基體效應(yīng),。

全反射熒光(TXRF)的主要優(yōu)點(diǎn)是，相對(duì)于其他原子波譜分析法,，如AAS 或 ICP-OES,，無(wú)記憶效應(yīng)。

全反射熒光分析法,，樣品必須制備在能全反射X射線(xiàn)的樣品架上,。因此，樣品架的直徑30mm,，材料通常是丙烯酸或石英玻璃,。

液體樣品直接滴在樣品架上，通常是使用微量移液管轉(zhuǎn)移幾微升（µl）試液到樣品架上,。然后在干燥器里蒸發(fā)或在烘箱中干燥,。

固體樣品，有不同的制樣方法,。粉末樣品（懸浮質(zhì),、土壤、礦物,、金屬,、色素、生化樣品,，等等）可以把樣品直接放在樣品架上直接測(cè)量,。典型的方法是，使用小勺或無(wú)塵紙轉(zhuǎn)移幾微克（µg）的樣品到樣品架上,。

單個(gè)的微量樣品（顆粒,，長(zhǎng)條等）也可以用類(lèi)似的方法直接制樣,。

另外，粉末樣品可以使用揮發(fā)性溶劑如甲醇制成懸浮液,，懸浮液用移液管轉(zhuǎn)移到樣品架上,，還可以使用微波消解的辦法。

主要特點(diǎn)：

可對(duì)固體,、粉末,、液體、懸浮物,、過(guò)濾物,、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性,、定量分析,，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至*,，檢出限到2pg,。

需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升,，粉末樣品10微克以?xún)?nèi),。

便攜式全反射熒光儀，設(shè)備小巧,，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),，不需要任何輔助設(shè)備及氣體、液氮等,，可拿到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析。

1位及25位全自動(dòng)進(jìn)樣器兩款設(shè)計(jì),，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動(dòng)分析,。

第四代XFlash®SDD硅漂移探測(cè)器，采用帕爾貼冷卻技術(shù),，不需要液氮,，沒(méi)有任何消耗。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps,。

由于全反射無(wú)背景,，熒光強(qiáng)度與元素含量直接成正比。標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)工廠已校準(zhǔn)好,，用戶(hù)不需要標(biāo)樣就可以進(jìn)行定量分析,。

應(yīng)用：水、廢水,、土壤中的污染元素,；血液,、尿液、組織中的有毒元素,；食品,、醫(yī)藥、刑偵,、環(huán)保,、陶瓷、水泥,、建材,、地質(zhì)等領(lǐng)域。