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特點(diǎn):
·易于安裝
·基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件,很容易操作
·先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì),,以確保能發(fā)揮出**的系統(tǒng)性能
·基于陣列設(shè)計(jì)的探測器系統(tǒng),,以確保快速測量
·獨(dú)特的光源設(shè)計(jì),,有著較好的光源強(qiáng)度穩(wěn)定性
·有四種方法來調(diào)整光的強(qiáng)度:
§ 通過電源的調(diào)節(jié)旋鈕來調(diào)節(jié)電源輸出的大小
§ 在光輸出端口濾光槽內(nèi)調(diào)整濾光片來調(diào)整
§ 調(diào)整光束大小
§ 通過TFProbe軟件,,在探測器里調(diào)整積分時(shí)間
·*多可測量5層的薄膜厚度和折射率
·在毫秒的時(shí)間內(nèi),,可以獲得反射率,、傳輸率和吸收光譜等一些參數(shù)
·能夠用于實(shí)時(shí)或在線的厚度、折射率測量
·系統(tǒng)配備大量的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫
·對于每個(gè)被測薄膜樣品,,用戶可以利用先進(jìn)的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫,、也可以進(jìn)行色散或者復(fù)合模型(EMA)測量分析;
·可升級至MSP(顯微分光光度計(jì))系統(tǒng),,SRM成像系統(tǒng),,多通道分析系統(tǒng),大點(diǎn)測量,。
·通過模式和特性結(jié)構(gòu)直接測量,。
·能夠應(yīng)用于不同類型、不同厚度的基片測量,。
·提供的各種配件可用于特殊結(jié)構(gòu)的測量,,例如通過曲線表面進(jìn)行縱長測量,。
·2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。
系統(tǒng)配置:
· 型號:SR500R
·雙探測器:對于紫外可見光用CCD,,對于近紅外使用InGaAs探測器
· 光源:氘和鹵素?zé)?/span>
·光傳送方式:光纖
·臺架平臺:特殊處理鋁合金,,能夠很容易的調(diào)節(jié)樣品重量,200mmx200mm的大小
· 軟件:TFProbe 2.2版本的軟件
· 通訊接口:USB的通訊接口與計(jì)算機(jī)相連
· 測量類型:薄膜厚度,,反射光譜,,折射率
· 電腦硬件要求:P3以上、*低50 MB的空間
·電源:110–240V AC/50-60Hz,,1.5A
· 保修:一年的整機(jī)及零備件保修
規(guī)格:
· 波長范圍:250nm到1700 nm
· 光斑尺寸:500μm至5mm
· 樣品尺寸:200mmx200mm或直徑為200mm
· 基板尺寸:*多可至50毫米厚
· 測量厚度范圍*:2nm?150μm
· 測量時(shí)間:*快2毫秒
· 精確度*:優(yōu)于0.5%(通過使用相同的光學(xué)常數(shù),,讓橢偏儀的結(jié)果與熱氧化物樣品相比較)
· 重復(fù)性誤差*:小于1A
應(yīng)用:
· 半導(dǎo)體制造(PR,Oxide,, Nitride..)
· 液晶顯示(ITO,,PR,Cell gap... ..)
· 醫(yī)學(xué),,生物薄膜及材料領(lǐng)域等
· 油墨,,礦物學(xué),顏料,,調(diào)色劑等
· 醫(yī)藥設(shè)備
· 光學(xué)涂層,,TiO2, SiO2,, Ta2O5... ..
· 半導(dǎo)體化合物
· 在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜
· 非晶體,,納米材料和結(jié)晶硅
暫無數(shù)據(jù)!