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產(chǎn)品特點：
儀器采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率,，具有精度高、靈敏度高以及自動控制等特點,。光源采用氦氖激光器,，功率穩(wěn)定波長精度高。
儀器采用USB接口與電腦連接，配套軟件功能齊全,，具有多樣數(shù)據(jù)采集及處理方式,，適用于不同用戶的需要。
技術參數(shù)：
規(guī)格與主要技術指標：
測量范圍：1nm-4000nm 折射率范圍：1-10
測量*小值：≤1nm 入射角：20°- 90°精度≤0.05°
度盤刻度：每格1度 允許樣品尺寸：φ10-φ140mm,，厚度≤16mm
偏振器方位角范圍：0°- 180° 外形尺寸：680*390*310mm
測量膜厚和折射率重復性精度分別為：0.5nm和0.005
主機重量：26kg
儀器測量精度：±0.5nm（薄膜厚度在10-100nm時）
光學中心高度：80mm 成套性：主機,、電控系統(tǒng)、USB接口,、配套軟件
成套性：主機,、電控系統(tǒng)、USB接口,、配套軟件（需配計算機）
主要特點：
產(chǎn)品特點：
儀器采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率,，具有精度高、靈敏度高以及自動控制等特點,。光源采用氦氖激光器,，功率穩(wěn)定波長精度高。
儀器采用USB接口與電腦連接,，配套軟件功能齊全，具有多樣數(shù)據(jù)采集及處理方式,，適用于不同用戶的需要,。
暫無數(shù)據(jù)！
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