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面議型號
卡爾蔡司CROSSBEAM350品牌
產(chǎn)地
德國樣本
暫無誤差率：
0.5分辨率：
0.1nm重現(xiàn)性：
0.5儀器原理：
其他分散方式：
0.5測量時(shí)間：
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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列,，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強(qiáng)大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結(jié)合,。1,，生命科學(xué)，如斷層掃描,，三維重構(gòu)
2,，電池領(lǐng)域，如原子層組分表征
3,，半導(dǎo)體領(lǐng)域,，如失效分析，電路修復(fù)
4,，金屬領(lǐng)域,，如界面分析，亞表面分析
5,，材料科學(xué),，如晶體微觀結(jié)構(gòu)分析，納米圖形化加工
6，透射電鏡,、EBSD,、微觀力學(xué)等多種樣品的原位制備
7，微納加工,。
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