誤差率:
0.5分辨率:
0.1nm重現(xiàn)性:
0.5儀器原理:
其他分散方式:
0.5測量時間:
0.5測量范圍:
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JEM-ARM200F球差校正透射電鏡,擁有STEM-HAADF像分辨率(63PM),標配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式,。對樣品在納米尺度的精細結構和化學成份進行高水平表征檢測,。用于納米科學、材料科學,、生命科學等領域的科研項目,。JEM-ARM200F差校正透射電鏡可用于成分,形貌,,結構分析測試,。獲得樣品表面形貌,粒徑等相關信息,。用于獲得明,、暗場像的襯度像進行分析。直接觀察晶體樣品中輕元素的原子陣列,,還可以同時獲取STEM-HAADF像,,極大增強觀察、分析能力,。原子像,,選區(qū)電子衍射,會聚束電子衍射,;對樣品在納米尺度的精細結構和化學成份進行高水平表征檢測,。
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