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面議型號(hào)
TECNAI G2 F30品牌
FEI產(chǎn)地
日本樣本
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0.5誤差率：
0.5分辨率：
0.1nm重現(xiàn)性：
0.5儀器原理：
其他分散方式：
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TECNAI G2 F30 是一臺(tái)多功能,、多用戶環(huán)境的場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡,。該儀器將各種透射電鏡技術(shù)（包括TEM、EFTEM,、STEM,、EDS/EELS頻譜成像等）進(jìn)行方便靈活地有機(jī)組合，形成了強(qiáng)大的分析功能,，從而在同類型儀器中獨(dú)占鰲頭,。除具有200KV的各種優(yōu)點(diǎn)外，TECNAI G2 F30提供了300KV的加速電壓,，可分析更厚,、更具挑戰(zhàn)性的樣品。同時(shí),，該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進(jìn)行高質(zhì)量,、高穩(wěn)定性的TEM、STEM和納米分析,。 TECNAI G2 F30的主要功能是TEM形貌觀察及HRTEM,，SAED衍射分析、EDS成分分析,、STEM形貌,、MAPPING,。廣泛應(yīng)用于材料、化學(xué),、物理,、地質(zhì)、地理,、環(huán)境,、生物、醫(yī)學(xué),、金屬,、半導(dǎo)體、高分子,、陶瓷等學(xué)科及領(lǐng)域.
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