誤差率：
優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標準樣品）分辨率：
優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標準樣品）重現(xiàn)性：
優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標準樣品）儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
濕法測量時間：
10秒測量范圍：
0.3nm-15微米看了Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀的用戶又看了
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技術指標：
測量原理 | 動態(tài)光散射（DLS）,、靜態(tài)光散射（SLS）,、電泳光散射（ELS） |
粒徑測量角度 | 90° |
粒徑測量范圍 | 0.3nm -15μm* |
粒徑準確度 | 優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標準樣品） |
粒徑重復性 | 優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標準樣品） |
粒徑測量*小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
粒徑測量*小樣品量 | 3ul* |
Zeta電位測量范圍 | -600mV - +600mV |
**電導率 | 270mS/cm |
適用Zeta電位測量的粒徑 | 3nm – 100μm* |
電導率準確度 | ±10% |
分子量范圍 | 340Da-2 x 107Da |
溫度控制范圍 | 0°C - 90°C (120°C可選) |
溫度控制精度 | ±0.1°C |
光源 | 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的**功率50mW, 波長638nm固體激光器 |
相關器 | 高速數(shù)字相關器,，自適應通道配置 |
檢測器 | 高靈敏度APD |
系統(tǒng)重量 | 17kg |
外形尺寸 | 365mm x 475mm x 180mm（LxWxH） |
注：* 取決于樣品及樣品池選件
Nanolink SZ901系列是真理光學在SZ900基礎上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng),，采用動態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒,、乳液,、高分子聚合物、膠束,、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析,。
Nanolink SZ901的杰出性能和主要特點包括：
◆ 經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm
◆ 激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析,，可準確預知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團聚的傾向性
◆ 加持自動恒溫技術的**功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源,，儀器即開即用
◆ **的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術
◆ **的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術
◆ 集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器
◆ 常規(guī)溫度控制范圍可達0°C - 90°C, **可選120°C, 精度±0.1°C
◆ 新一代高速數(shù)字相關器，動態(tài)范圍大于1011
◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術
獨創(chuàng)的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術
獨創(chuàng)的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術
全新相位差法測量Zeta電位,，精度更高更穩(wěn)定
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