參考價格
20-30萬元型號
Nanotrac wave II品牌
Microtrac MRB/麥奇克產(chǎn)地
美國/德國樣本
暫無誤差率:
分辨率:
重現(xiàn)性:
誤差≤1%儀器原理:
動態(tài)光散射分散方式:
測量時間:
30-120秒測量范圍:
0.3nm-10μm看了納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的用戶又看了
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納米粒度測量——先進的動態(tài)光背散射技術(shù)
Zeta電位測量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解,,經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究,,開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術(shù),融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,,無需傳統(tǒng)的比色皿,,一次進樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù),。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比,NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計,,配置膜電極產(chǎn)生微電場,,操作簡單,測量迅速,,無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,,完全消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,,分散介質(zhì)的影響,,顆粒間多重散射等)帶來的光學(xué)信號的損失,結(jié)果準(zhǔn)確可靠,,重現(xiàn)性好,。
測量原理:
粒度測量:動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
Zeta電位測量:膜電極設(shè)計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率
分子量測量:水力直徑或德拜曲線
光學(xué)系統(tǒng):
3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,通過梯度步進光纖直接照射樣品,,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,,無需校正光路
軟件系統(tǒng):
先進的FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力,包括圖形,,數(shù)據(jù)輸出/輸入,,個性化輸出報告,,及各種文字處理功能,,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等,。體積,,數(shù)量,面積及光強分布,,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù),。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護,,電子簽名和指定授權(quán)等,。
外部環(huán)境:
電源要求:90-240VAC,5A,,50/60Hz
環(huán)境要求:溫度,,10-35°C
國際標(biāo)準(zhǔn):符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點:
? 采用先進的動態(tài)光散射技術(shù),,引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
? “Y”型光纖光路系統(tǒng),,通過藍寶石測量窗口,,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,,與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場,,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化,。
? 異相多譜勒頻移技術(shù),,較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,,提高分析結(jié)果的可靠性,。
? 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,,確保分析的靈敏度,。
? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性,。
? 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,,縮短分析時間,。
? 膜電極設(shè)計,避免產(chǎn)生熱效應(yīng),,能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度,。
? 無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,,僅需點擊Zeta電位操作鍵,,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,,樣品池位置不同帶來的誤差,,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,,多重散射的衰減等,,提高靈敏度。
粒度分析范圍 | 0.3nm-10μm |
重現(xiàn)性 | 誤差≤1% |
濃度范圍 | 100ppb-40%w/v |
檢測角度 | 180° |
分析時間 | 30-120秒 |
準(zhǔn)確性 | 全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 |
測量精度 | 無需預(yù)選,,依據(jù)實際測量結(jié)果,,自動生成單峰/多峰分布結(jié)果 |
理論設(shè)計溫度 | 0-90℃,可以進行程序升溫或降溫 |
兼容性 | 水相和有機相 |
暫無數(shù)據(jù),!
Microtrac:作為一個顆粒表征解決方案的供應(yīng)商,,提供三條產(chǎn)品線,,在三大洲擁有研發(fā)和技術(shù)中心。散射光分折: 作為粒度測量的通用方法—靜態(tài)激光衍射法的領(lǐng)導(dǎo)者,,還提供先進的動態(tài)光
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