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SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具,。根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測,，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A₂）的測定,。SZ-100的典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液,。

顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理（DLS）,。根據(jù)樣品的物理性質(zhì)，動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm,。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度,、樣品對光的散射強度以及大的雜質(zhì)顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,，因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降,。

SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,，通過顆粒電泳遷移率的結(jié)果計算zeta電位,。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數(shù)值較大表明顆粒帶電較多,，斥力較大,，較難發(fā)生團聚，溶液保持穩(wěn)定,。通常根據(jù)pH值或其他化學(xué)參數(shù)的改變檢測zeta電位以便于設(shè)計可長時間保存的產(chǎn)品,。相反地，發(fā)現(xiàn)zeta電位為零時（就是說,，樣品處于等電點）,，就要考慮選擇**條件將顆粒進行絮凝和分離。

SZ-100還可以用于檢測蛋白質(zhì),、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù),。用戶準備幾個已知濃度的溶液，然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,，從而計算出Mw和A₂,。

特征

• 將粒度、zeta電位,、分子量及第二維利系數(shù)的檢測集于一身

• 寬檢測范圍,，寬濃度范圍

• 雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）

• 多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

• 用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

• 自動滴定儀：可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

測量范圍

• 顆粒直徑：0.3nm-8.0μm

測量精度

• 粒徑：按照ISO 13321/22412

• 可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒：100nm測量精度= +/- 2%

濃度

• 下限：0.1 mg/mL溶菌酶

• 上限：40 wt % （視樣品而定）

測量時間

• 粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設(shè)定)

樣品池

•  比色皿樣品池

取樣量

• 12μl ～ 4ml* （* 取樣量取決于樣品池容量。）

測量技術(shù)

SZ-100采用動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑,。樣品顆粒在池中做布朗運動。光源照入樣品池，散射光被90° 或173°檢測器采集（如下圖所示）,。系統(tǒng)根據(jù)樣品濃度和光強自動選擇**的散射角和樣品池位置,。

請參見動態(tài)光散射具體介紹

散射光信號進入到一個多通道的相關(guān)器，生成自相關(guān)函數(shù)用以確定顆粒的多分散系數(shù),。然后用Stokes-Einstein方程式計算粒徑,。可根據(jù)樣品量和測量目的自定義樣品池,。

zeta電位測量可使用一次性塑料電極樣品池,。系統(tǒng)先測量樣品的電導(dǎo)率，施加一個電場,，然后用電泳光散射測量粒子運動,。電荷的正負決定著粒子的移動方向，而移動方向和移動速度決定了電荷的數(shù)量級（zeta電位）,。zeta電位的結(jié)果可用于衡量分散體系的穩(wěn)定性,。

請參見Zeta 電位技術(shù)具體介紹

SZ-100通過對不同濃度樣品進行靜態(tài)光散射測量計算出其**分子量值。通過德拜曲線及樣品濃度就可得出分子量和第二維利系數(shù),。

請參見分子量測量技術(shù)具體介紹

所有這些測量都通過菜單運行,，軟件操作簡單?？梢赃x擇合適的樣品進行導(dǎo)航程序設(shè)定,。初學(xué)者可以選擇默認參數(shù)以得到好且高重現(xiàn)性的數(shù)據(jù)。對于清楚知道樣品分析的熟練者可在高級選項中進行追加設(shè)置,。