中國(guó)粉體網(wǎng)訊  科學(xué)家門捷列夫說(shuō)：“科學(xué)是從測(cè)量開(kāi)始的�,！薄艾F(xiàn)代熱力學(xué)之父”開(kāi)爾文有一條著名結(jié)論：“只有測(cè)量出來(lái),，才能制造出來(lái)�,！比祟惪茖W(xué)研究的革命,，工業(yè)制造的迭代升級(jí)，都離不開(kāi)測(cè)量技術(shù)的精進(jìn),。對(duì)于粉體顆粒粒度,，特別是納米顆粒粒度實(shí)現(xiàn)快速,、準(zhǔn)確的測(cè)量，具有非常重要的價(jià)值和意義,。近年來(lái),，對(duì)于納米顆粒粒度的測(cè)量方法層出不窮，已經(jīng)成為各大高校以及研究所的研究熱點(diǎn)之一,。電子顯微鏡法電子顯微鏡包括透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)等,，電子顯微鏡是最常用的微觀形貌表征分析儀器，是當(dāng)前測(cè)量納米顆粒粒徑標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的最高標(biāo)準(zhǔn),。由于其可以捕獲顆粒的圖像,，直接觀察納米顆粒的形貌、粒徑大小,、粒徑分布等信息,，國(guó)內(nèi)外的納米/亞微米粒徑標(biāo)..【詳細(xì)】