中國粉體網(wǎng)訊  科學(xué)家門捷列夫說：“科學(xué)是從測量開始的,�,！薄艾F(xiàn)代熱力學(xué)之父”開爾文有一條著名結(jié)論：“只有測量出來，才能制造出來,�,！比祟惪茖W(xué)研究的革命，工業(yè)制造的迭代升級,，都離不開測量技術(shù)的精進,。對于粉體顆粒粒度，特別是納米顆粒粒度實現(xiàn)快速,、準(zhǔn)確的測量,，具有非常重要的價值和意義,。近年來，對于納米顆粒粒度的測量方法層出不窮,，已經(jīng)成為各大高校以及研究所的研究熱點之一,。電子顯微鏡法電子顯微鏡包括透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)等,，電子顯微鏡是最常用的微觀形貌表征分析儀器,，是當(dāng)前測量納米顆粒粒徑標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的最高標(biāo)準(zhǔn)。由于其可以捕獲顆粒的圖像,，直接觀察納米顆粒的形貌,、粒徑大小、粒徑分布等信息,，國內(nèi)外的納米/亞微米粒徑標(biāo)..【詳細(xì)】