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電化學(xué)性能分析儀

一,、高精度循環(huán)伏安測(cè)試系統(tǒng)

1.產(chǎn)品特點(diǎn)

• 支持各種電芯,，電容材料研究,，半電池,，三電極,，扣電,，小容量電芯研究測(cè)試

• 支持壽命預(yù)測(cè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),，精準(zhǔn)庫(kù)倫效率,，電池自放電，材料微小副反應(yīng)測(cè)試

• 支持電化學(xué)多掃速循環(huán)伏安法，線性掃描伏安法,，GITT/PITT/CA/CP測(cè)試

• 支持軟件,，硬件，固件三重保護(hù),，確保設(shè)備和樣品安全測(cè)試,。工步一鍵續(xù)接、 數(shù)據(jù)多重備份

• 電壓&電流精度高達(dá)0.01%,；高達(dá)納安級(jí)別的電流控制

元能精度校準(zhǔn)證書(shū)：萬(wàn)一精度,！

2.應(yīng)用場(chǎng)景

• 精準(zhǔn)DCI

• 電化學(xué)窗口

• 精準(zhǔn)克容量

• 精準(zhǔn)庫(kù)倫效率

• 自放電

• 微分容量分析

2.1應(yīng)用場(chǎng)景一：精準(zhǔn)的DCIR性能

扣電的DCIR分析

• 采用三種電壓精度的設(shè)備，對(duì)5組扣電進(jìn)行DCIR測(cè)試,，0.1s取點(diǎn),； 

• 電壓精度越高，扣電DCIR的一致性越好,；

2.2應(yīng)用場(chǎng)景二：循環(huán)伏安評(píng)估材料性能

電極材料電化學(xué)穩(wěn)定窗口評(píng)估

• 可逆還原的峰值電流與掃速的平方根成正比,； 

• 與電化學(xué)工作站的CV曲線一致；

2.3應(yīng)用場(chǎng)景三：充放電評(píng)估材料克容量

材料克容量測(cè)試

2.4應(yīng)用場(chǎng)景四：充放電評(píng)估電芯庫(kù)倫效率

庫(kù)倫效率測(cè)試

基于庫(kù)倫效率構(gòu)建的壽命預(yù)測(cè)模 型,，可以預(yù)測(cè)電池的容量衰減情況 有效的壽命預(yù)測(cè),，精度必須控制在 至少萬(wàn)分之一，噪聲干擾在10ppm 以下,！

2.5應(yīng)用場(chǎng)景五：恒壓充電評(píng)估電芯自放電

電芯自放電

? 高精度支持大容量,，低內(nèi)阻電芯的漏電流測(cè)試 

? 取代傳統(tǒng)測(cè)量K值耗時(shí)耗力的方案，更快更精準(zhǔn)監(jiān)控電芯自放電特性

扣電漏電流測(cè)試

電極： 三元（ф14mm） vs. 鋰（ф20mm） 

容量： 2mAh 

設(shè)備： ECT6008高精度設(shè)備

測(cè)試流程

恒流恒壓充電：0.8mA,，3.8V,，持續(xù)72小時(shí)

元能高精度設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)低至nA級(jí)別的電流監(jiān)控，支持微小漏電流的測(cè)量

2.6應(yīng)用場(chǎng)景六：微分容量曲線評(píng)估材料相變

微分容量曲線分析

? dQ/dV曲線的繪制需要對(duì)電池電量 (Q) 和電壓 (V) 進(jìn)行高精度測(cè)量,，尤其 是用于分析電池的電化學(xué)行為,、容量衰減和材料特性時(shí) 

曲線平滑度 

? 高精度設(shè)備：dQ/dV曲線平滑且連續(xù),，能夠捕捉到微小的電化學(xué)變化,。 

電化學(xué)反應(yīng)特性 

? 高精度設(shè)備：能夠清晰顯示電池中多階段反應(yīng)的特征峰，揭示材料的相 變或副反應(yīng),。 

? 低精度設(shè)備：特征峰被測(cè)量噪聲掩蓋,，容易漏掉重要信息,。

dQ/dV曲線分析中，高精度設(shè)備對(duì)于研究電化學(xué)細(xì)節(jié),、提高數(shù)據(jù)可靠性和識(shí)別材料特性至關(guān)重要。低精 度設(shè)備可以完成基礎(chǔ)測(cè)試,，但可能遺漏關(guān)鍵細(xì)節(jié),，特別是在高要求的研究場(chǎng)景下。

3.型號(hào)及參數(shù)

二,、高精度循環(huán)伏安+阻抗測(cè)試系統(tǒng)

1、產(chǎn)品特點(diǎn)

?支持各種電芯,，電容材料研究，半電池,，三電極,，扣電,， 小容量電芯研究測(cè)試,。 

?支持壽命預(yù)測(cè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù),，精準(zhǔn)庫(kù)倫效率,，電池自放電,， 材料微小副反應(yīng)測(cè)試,。 

?支持電化學(xué)阻抗譜 EIS,，多掃速循環(huán)伏安法,，線性掃描伏 安法，GITT/PITT/CA/CP 測(cè)試,。 

?支持軟件,，硬件,，固件三重保護(hù),，確保設(shè)備和樣品安全 測(cè)試,。工步一鍵續(xù)接,、數(shù)據(jù)多重備份。 

?電壓 & 電流精度高達(dá) 0.01%,；高達(dá)納安級(jí)別的電流控制,。

2,、應(yīng)用場(chǎng)景

• 電芯循環(huán)阻抗分析

• 不同電芯阻抗分析

2.1應(yīng)用場(chǎng)景一：電芯循環(huán)阻抗測(cè)試

扣電循環(huán)EIS測(cè)試：0.01Hz~100kHz，每10%SOC測(cè)試一次EIS

2.2應(yīng)用場(chǎng)景二：不用電芯阻抗分析

高頻EIS阻抗范圍：0.01Hz~100kHz,，滿足10mΩ~1kΩ級(jí)別電芯的高頻阻抗測(cè)試需求

與國(guó)外知名電化學(xué)工作站的EIS測(cè)試結(jié)果相比,，誤差在5%以內(nèi)

3、型號(hào)及參數(shù)