
元能科技(廈門)有限公司

已認(rèn)證
元能科技(廈門)有限公司
已認(rèn)證
電化學(xué)性能分析儀
一,、高精度循環(huán)伏安測試系統(tǒng)
1.產(chǎn)品特點(diǎn)
支持各種電芯,電容材料研究,,半電池,,三電極,扣電,,小容量電芯研究測試
支持壽命預(yù)測基準(zhǔn)數(shù)據(jù),,精準(zhǔn)庫倫效率,電池自放電,,材料微小副反應(yīng)測試
支持電化學(xué)多掃速循環(huán)伏安法,,線性掃描伏安法,GITT/PITT/CA/CP測試
支持軟件,硬件,,固件三重保護(hù),,確保設(shè)備和樣品安全測試。工步一鍵續(xù)接,、 數(shù)據(jù)多重備份
電壓&電流精度高達(dá)0.01%,;高達(dá)納安級別的電流控制
元能精度校準(zhǔn)證書:萬一精度!
2.應(yīng)用場景
精準(zhǔn)DCI
電化學(xué)窗口
精準(zhǔn)克容量
精準(zhǔn)庫倫效率
自放電
微分容量分析
2.1應(yīng)用場景一:精準(zhǔn)的DCIR性能
扣電的DCIR分析
采用三種電壓精度的設(shè)備,,對5組扣電進(jìn)行DCIR測試,,0.1s取點(diǎn);
電壓精度越高,,扣電DCIR的一致性越好,;
2.2應(yīng)用場景二:循環(huán)伏安評估材料性能
電極材料電化學(xué)穩(wěn)定窗口評估
可逆還原的峰值電流與掃速的平方根成正比;
與電化學(xué)工作站的CV曲線一致,;
2.3應(yīng)用場景三:充放電評估材料克容量
材料克容量測試
2.4應(yīng)用場景四:充放電評估電芯庫倫效率
庫倫效率測試
基于庫倫效率構(gòu)建的壽命預(yù)測模 型,,可以預(yù)測電池的容量衰減情況 有效的壽命預(yù)測,精度必須控制在 至少萬分之一,,噪聲干擾在10ppm 以下,!
2.5應(yīng)用場景五:恒壓充電評估電芯自放電
電芯自放電
? 高精度支持大容量,低內(nèi)阻電芯的漏電流測試
? 取代傳統(tǒng)測量K值耗時(shí)耗力的方案,,更快更精準(zhǔn)監(jiān)控電芯自放電特性
扣電漏電流測試
電極: 三元(ф14mm) vs. 鋰(ф20mm)
容量: 2mAh
設(shè)備: ECT6008高精度設(shè)備
測試流程
恒流恒壓充電:0.8mA,,3.8V,持續(xù)72小時(shí)
元能高精度設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)低至nA級別的電流監(jiān)控,,支持微小漏電流的測量
2.6應(yīng)用場景六:微分容量曲線評估材料相變
微分容量曲線分析
? dQ/dV曲線的繪制需要對電池電量 (Q) 和電壓 (V) 進(jìn)行高精度測量,,尤其 是用于分析電池的電化學(xué)行為、容量衰減和材料特性時(shí)
曲線平滑度
? 高精度設(shè)備:dQ/dV曲線平滑且連續(xù),,能夠捕捉到微小的電化學(xué)變化,。
電化學(xué)反應(yīng)特性
? 高精度設(shè)備:能夠清晰顯示電池中多階段反應(yīng)的特征峰,揭示材料的相 變或副反應(yīng),。
? 低精度設(shè)備:特征峰被測量噪聲掩蓋,,容易漏掉重要信息。
dQ/dV曲線分析中,,高精度設(shè)備對于研究電化學(xué)細(xì)節(jié),、提高數(shù)據(jù)可靠性和識別材料特性至關(guān)重要。低精 度設(shè)備可以完成基礎(chǔ)測試,,但可能遺漏關(guān)鍵細(xì)節(jié),,特別是在高要求的研究場景下。
3.型號及參數(shù)
二,、高精度循環(huán)伏安+阻抗測試系統(tǒng)
1,、產(chǎn)品特點(diǎn)
?支持各種電芯,,電容材料研究,半電池,,三電極,,扣電, 小容量電芯研究測試,。
?支持壽命預(yù)測基準(zhǔn)數(shù)據(jù),,精準(zhǔn)庫倫效率,電池自放電,, 材料微小副反應(yīng)測試,。
?支持電化學(xué)阻抗譜 EIS,多掃速循環(huán)伏安法,,線性掃描伏 安法,,GITT/PITT/CA/CP 測試,。
?支持軟件,,硬件,固件三重保護(hù),,確保設(shè)備和樣品安全 測試,。工步一鍵續(xù)接、數(shù)據(jù)多重備份,。
?電壓 & 電流精度高達(dá) 0.01%,;高達(dá)納安級別的電流控制。
2,、應(yīng)用場景
電芯循環(huán)阻抗分析
不同電芯阻抗分析
2.1應(yīng)用場景一:電芯循環(huán)阻抗測試
扣電循環(huán)EIS測試:0.01Hz~100kHz,,每10%SOC測試一次EIS
2.2應(yīng)用場景二:不用電芯阻抗分析
高頻EIS阻抗范圍:0.01Hz~100kHz,滿足10mΩ~1kΩ級別電芯的高頻阻抗測試需求
與國外知名電化學(xué)工作站的EIS測試結(jié)果相比,,誤差在5%以內(nèi)
3,、型號及參數(shù)
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