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蘇州晶格電子有限公司
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蘇州晶格電子有限公司
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一,、結(jié)構(gòu)特征
M3手持式四探針測(cè)試儀主機(jī) 配ST2253-F01鎢針探頭測(cè)試硅片 配ST2558B-F01薄膜探頭測(cè)試ITO膜
二、概述
2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
M3手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途,、高性?xún)r(jià)比測(cè)量?jī)x器,。
該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā返葒?guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。
2.2配套組成：標(biāo)準(zhǔn)配置由M-3型主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,，也可加配測(cè)試臺(tái)當(dāng)臺(tái)式機(jī)使用,。
2.3優(yōu)勢(shì)特征：
1美觀適用：彩色流線(xiàn)型手持式面板,、帶防滑墊，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),。適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用,，也可以定制小型旅行手提箱包裝，便于野外或旅行使用,。
2高精度：帶完善厚度,、形狀修正功能，測(cè)試準(zhǔn)確,。同行中手持式多為簡(jiǎn)易程序,，沒(méi)有完整修正功能，無(wú)法修正誤差,。
3寬量程：超寬五個(gè)檔位,，相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程，同行中手持式多為兩到三個(gè)檔位,，測(cè)試范圍有限,，適應(yīng)性不廣。
4操作簡(jiǎn)便,、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤(pán)實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定,、功能轉(zhuǎn)換，簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾,。
5手動(dòng)/自動(dòng)一體化：
6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數(shù)碼和ＬＥＤ數(shù)字表頭顯示,，不怕環(huán)境背景暗或野外強(qiáng)光；
7待機(jī)和工作時(shí)間長(zhǎng)（不小于兩天）,，有大容量可充電鋰電池電池供電,，環(huán)保耐用。
2.4探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要,，探頭可有多款選配,。詳情見(jiàn)《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》
1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型,，以測(cè)試硅等半導(dǎo)體,、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,；
2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,，如ST2558B-F01型，可測(cè)金屬箔,、碳紙等導(dǎo)電薄膜,，也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜,、噴涂膜、ITO膜,、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻,。
3配專(zhuān)用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型,，也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻,。
4換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量,。
2.5測(cè)試臺(tái)選配：根據(jù)不同材料特性需要,，測(cè)試臺(tái)可有多款選配。詳情見(jiàn)《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》
四探針?lè)y(cè)試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型（電動(dòng)）或SZT-C型（快速恒壓）測(cè)試臺(tái),。
二探針?lè)y(cè)試細(xì)長(zhǎng)棒類(lèi)材料選配SZT-K型測(cè)試臺(tái).
平行四刀法測(cè)試橡塑材料選配SZT-G型測(cè)試臺(tái),。
2.6適用范圍：手持式使用，儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠,、科研單位,、高等院校四探針?lè)▽?duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體,、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試,。
。
三,、基本技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍,、分辨率
電 阻： 0.010Ω～ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω～ 10 Ω
電 阻 率： 0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω～ 10 Ω-cm
方塊電阻： 0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω～ 10 Ω/□
2.可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直 徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm,。
SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,。.
測(cè)量方位: 軸向,、徑向均可.
3.量程劃分及誤差等級(jí)（括號(hào)內(nèi)為拓展量程）
量程（Ω-cm/□） | 2.000 （200.0ｍ） | 20.00 （2.000ｍ） | 200.0 （20.00） | 2.000k （200.0） | 20.00k （2.000k） |
電阻測(cè)試范圍 | 0.010～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | |||
4)充電器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電DC3.7V.
5)外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
注：該儀器未取得中華人民共和國(guó)醫(yī)療器械注冊(cè)證,，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途
聯(lián)系人：王經(jīng)理
聯(lián)系電話(huà)：13656 225155
微信：13656 225155
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