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一,、結構特征

 M3手持式四探針測試儀主機          配ST2253-F01鎢針探頭測試硅片                  配ST2558B-F01薄膜探頭測試ITO膜

二、概述

2.1基本功能和依據(jù)標準：

  M3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途,、高性價比測量儀器,。

該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等國標并參考美國 A.S.T.M 標準,。

    2.2配套組成：標準配置由M-3型主機、選配的四探針探頭等二部分組成,，也可加配測試臺當臺式機使用,。

2.3優(yōu)勢特征：

1美觀適用：彩色流線型手持式面板、帶防滑墊,，符合人體工程學設計,。適合手持式變動場合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包裝,，便于野外或旅行使用,。

2高精度：帶完善厚度,、形狀修正功能，測試準確,。同行中手持式多為簡易程序,，沒有完整修正功能，無法修正誤差,。

3寬量程：超寬五個檔位,，相當于中檔臺式機的量程，同行中手持式多為兩到三個檔位,，測試范圍有限,，適應性不廣。

4操作簡便,、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設定,、功能轉(zhuǎn)換，簡便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾,。

5手動/自動一體化：

6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數(shù)碼和ＬＥＤ數(shù)字表頭顯示,，不怕環(huán)境背景暗或野外強光；

7待機和工作時間長（不小于兩天）,，有大容量可充電鋰電池電池供電,，環(huán)保耐用。

2.4探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要,，探頭可有多款選配,。詳情見《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》

1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型,，以測試硅等半導體,、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,；

2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,，如ST2558B-F01型，可測金屬箔,、碳紙等導電薄膜,，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜,，如金屬鍍膜,、噴涂膜、ITO膜,、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻,。

3配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型,，也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻,。

4換上四端子測試夾具,，還可對電阻器的體電阻進行測量。

2.5測試臺選配：根據(jù)不同材料特性需要,，測試臺可有多款選配。詳情見《四探針測試臺型號規(guī)格特征選型參照表》

四探針法測試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型（電動）或SZT-C型（快速恒壓）測試臺,。

二探針法測試細長棒類材料選配SZT-K型測試臺.

平行四刀法測試橡塑材料選配SZT-G型測試臺,。

2.6適用范圍：手持式使用，儀器適用于半導體材料廠器件廠,、科研單位,、高等院校四探針法對導體、半導體,、類半導體材料的導電性能的測試,。 

。

三,、基本技術參數(shù)

1.測量范圍,、分辨率

電    阻：     0.010Ω～ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω～ 10 Ω

電 阻 率：     0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω～ 10 Ω-cm

方塊電阻：     0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω～ 10 Ω/□

2.可測材料尺寸

手持方式不限材料尺寸,，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：

直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm,。

SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,。.

測量方位: 軸向,、徑向均可.

3.量程劃分及誤差等級（括號內(nèi)為拓展量程）

4)充電器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電DC3.7V.

5)外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg

注：該儀器未取得中華人民共和國醫(yī)療器械注冊證,，不可用于臨床診斷或治療等相關用途

聯(lián)系人：王經(jīng)理

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